高频测试探针 MOIP200P
接口同轴

高频测试探针 - MOIP200P - TPS Elektronik GmbH - 接口 / 同轴
高频测试探针 - MOIP200P - TPS Elektronik GmbH - 接口 / 同轴
高频测试探针 - MOIP200P - TPS Elektronik GmbH - 接口 / 同轴 - 图像 - 2
高频测试探针 - MOIP200P - TPS Elektronik GmbH - 接口 / 同轴 - 图像 - 3
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产品规格型号

技术参数
同轴, 用于高频, 接口

产品介绍

概述
Micsig MOIP200P 是一款光纤隔离的示波器探头,专为电力电子和半导体测试中的差分及浮动电压测量而设计。该探头具有 200MHz 带宽和 1.75ns 上升时间,同时具备出色的共模抑制,能为高压及敏感测量环境提供完整的电气隔离解决方案。

主要特性
  • 200MHz 带宽:1.75ns 上升时间,可可靠捕捉开关瞬变。
  • 高 CMRR:直流 180dB,200MHz 时 122dB。
  • 85kV 电气隔离:85kVpk 隔离等级,适用于高电位试验。
  • 低噪声与高精度:<0.3mVrms 噪声,1% 直流精度,0.1% 偏移漂移降低。
  • 模块化衰减器:通过可互换探头头覆盖 10mV 至 20kV 测量范围,支持 0dB/20dB 切换。
  • 低输入电容:1pF,短同轴引线将电路负载降到最低。
  • 连续光学校准:光功率补偿与自动校准,确保长期测量一致性。
  • 标准接口:BNC 输出,2 m 光纤线缆,DC 12V 供电。


应用
  • SMPS 与 DC-DC 转换器验证
  • 电机驱动与逆变器波形分析
  • IGBT 与宽禁带半导体测试
  • 高压绝缘测试与中压电力系统检测
  • EMC/ESD 诊断与信号完整性验证


技术规格
带宽:200MHz
上升时间:≤1.75ns
CMRR:180dB(直流),122dB(200MHz)
隔离等级:85kVpk
输入电容:1pF
噪声(全带宽):<0.3mVrms
电源:DC 12V
接口:BNC
衰减范围:0dB / 20dB(模块化探头头)
测量范围:10mV 至 20kV(使用衰减器探头头时)

订购与制造商信息
  • 物料号:OIP1011
  • 制造商:Micsig
  • 型号:MOIP200P
  • 线缆:2 m 光纤线缆
  • 典型用途:电力电子研发与生产测试台

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