半导体式检测系统 MXI QUADRA™ 7 Pro

X射线自动化测量

Quadra™ Pro 系列 可生成无与伦比的超高清图像。内部设计的高性能双模式 NT4 X 光管和 Onyx 检测器可让您看到最微小的细节，并立即发现缺陷。一切清晰立现。 Quadra™ 7 Pro 为后端半导体应用提供更高分辨率的 3D/2D 手动检查设立了新标准。配备革新的 Onyx® 检测器技术，可提供卓越的图像清晰度并降低噪声水平，通过最高水平的准确性和效率来提升检查体验。 Quadra 7 Pro 配备最新的双模 Quadra NT4® 管，为用户提供最大的灵活性。这一创新功能提供亮度和分辨率模式，允许操作员根据特定的应用要求在两种模式之间动态切换。 除了先进的硬件外，Quadra 7 Pro 还配备新开发的 Revalution™ 软件。Revalution™ 软件专为高端半导体应用而设计，通过直观的界面、优化的工作流程和扩展功能来增强用户体验。它使操作员能够有效地分析和解释检查数据，有助于更快地制定决策并提高整体生产力。 关键核心技术 英国制造 Quadra™ 7 Pro 可生成无与伦比的超高清图像。内部设计的高性能 X 光管和检测器确保让您看到最微小的细节，并立即发现缺陷。一切清晰立现 我们需要更多功能并提高产品功能，希望现在就能实现！ 新款 Onyx 检测器 提高了速度 减少了噪音 提高了清晰度 最新的 QuadraNT 管 提高了清晰度 简化了操作 新款 Revalution 软件 优化的工作流程 提高了稳定性 易于使用 符合人体工程学的设计 超宽曲面显示屏