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... 结合多种传感器和自动化技术，为半导体晶圆量测提供更高的价值。 新产品 "Xtrology," 全自动薄膜量测系统*1 的发布使得仅用一台设备就能对各种晶圆进行薄膜厚度测量、缺陷分析和成分分析等重要量测成为可能。 近些年来，随着半导体工业中的技术发展，生产过程中的检测项目不断增多，同时量测要求也持续提高。 针对硅和化合物半导体器件的传统和先进工艺， Xtrology能够对各种尺寸晶圆和材料进行量测和缺陷检测。我们将基于HORIBA 核心技术独立开发的各种传感器和自动化技术集成到一个平台上，从而提供多种解决方案。 1. ...
... FF35 CT 可选配双射线管配置，在检测中小型零件时，兼具空前优异的CT数据质量和非凡的多功能性。 • 单或双射线管配置，可最大限度提高实验室微焦点CT应用多功能性 • 只需轻触一个按钮，即可在数秒内在 225 kV Micro-focus管和190 kV Nano-focus管之间自如切换 • 花岗岩底座操控和温控，确保精确的结果 • 通过Geminy软件平台进行各种CT轨迹和视场 (FoV) 扩展，应用灵活 • 可选计量版本，测量精度可达 MPESD = 5.9 µm + L/75 ...
... 广泛应用于 BGA、CSP、倒装芯片、LED、保险丝、二极管、PCB、半导体、电池行业、小型金属铸造、电子连接器模块、电缆、光伏行业等。 应用领域 SMT/PCBA 半导体 锂电池 发光二极管 光伏 ...
... Quadra™ Pro 系列 可生成无与伦比的超高清图像。内部设计的高性能双模式 NT4 X 光管和 Onyx 检测器可让您看到最微小的细节，并立即发现缺陷。一切清晰立现。 Quadra™ 7 Pro 为后端半导体应用提供更高分辨率的 3D/2D 手动检查设立了新标准。配备革新的 Onyx® 检测器技术，可提供卓越的图像清晰度并降低噪声水平，通过最高水平的准确性和效率来提升检查体验。 Quadra 7 Pro 配备最新的双模 Quadra NT4® 管，为用户提供最大的灵活性。这一创新功能提供亮度和分辨率模式，允许操作员根据特定的应用要求在两种模式之间动态切换。 除了先进的硬件外，Quadra ...
... .可编辑检测程序，实现 CNC 自动检测。 7.适用于大批量检测，提高检测效率，自动判断 NG 产品。 8.超大自动导航窗口，单击鼠标即可将平台移动到指定位置。 9.操作非常方便，可快速发现物品缺陷，提高检测效率。 10.安全性高，获得欧盟 CE 证书、国际质量管理体系 ISO 和 AERB X 射线证书。 ...