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测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz
... thicknessGAUGE C.L传感器系统使用激光三角测量传感器进行厚度测量。这些激光传感器能在高速下实现高测量率。thicknessGAUGE.laser系列以良好的性价比给人留下深刻印象，最好用于普通表面的厚度测量，如塑料、木材和金属。 thicknessGAUGE传感器系统可用于带材加工和板材生产，以连续测量单个工件的厚度。 在单个测量点上连续测量厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 2 mm
测量精度: 4 µm
测量宽度: 200 mm - 400 mm
... thicknessGAUGE C.C传感器系统使用共聚焦色度位移传感器进行厚度测量。这些传感器使测量工作具有出色的准确性和高测量率。此外，这种创新的测量技术可以测量反射和闪亮的表面，以及（半）透明的测量对象。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产，以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 具有记录和过程控制的功能。 文章数据库 生产档案 统计评估 返回生产的极限值监测（可选现场总线接口） 测量系统能力的验证 ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 8 mm
测量精度: 0.8 µm
测量频率: 100 Hz
... thicknessGAUGE C.LP传感器系统使用激光轮廓扫描仪进行厚度测量。这些扫描器在被测表面上投射出一条激光线。激光线可以补偿板带的倾斜，并实现轮廓的平均化。激光线测量技术使得测量结构性材料的厚度成为可能，如压花表面和穿孔板。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产，以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 15 mm
测量精度: 1.2 µm
测量频率: 500 Hz
... 概述
thicknessGAUGE 3D 是一款用于带材和板材的在线轮廓评估及 3D 厚度测量的传感器系统。系统在刚性框架上安装两台红光激光轮廓传感器，采集上、下表面轮廓并生成单独轮廓以及组合的 3D 点云，以便自动化分析。
应用
用于涂层边缘、焊缝、线材轮廓的在线测量及生产线上的厚度监控。
主要特性
- 传感器类型：激光轮廓传感器（红光激光）
- 同时采集上、下表面轮廓
- 在线
MICRO-EPSILON/米铱
测量精度: 0.2 µm - 0.2 µm
测量宽度: 0 mm - 1,250 mm
... 概述
thicknessGAUGE O.IMS 是用于隔膜涂层及电池涂层在线厚度测量的紧凑型传感器系统。该系统采用紧凑 O 型框架设计，使用穿透薄膜的白光干涉仪实现单侧非接触测量。两个传送滚轮用于稳定薄膜以保证测量可靠性。
测量模式与适用性
系统可在横向扫描（traversing）或定轨测量（例如中心线或边缘厚度）模式下运行。适用于间歇薄膜和纵向涂层薄膜，可在固定位置测量或生成纵向厚度轮廓。
软件与集成
紧凑单元包含集成线性单元（含电机控制）、紧凑型总线端子盒、自动校准装置以及预装软件的多点触控PC。随附软件支持数据采集、信号处理与自动化。支持的测量模式包括定轨厚度测量、轮廓测量、多条纵向趋势测量、SPC ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 3.6 mm - 7 mm
测量精度: 0.3 µm - 0.5 µm
测量宽度: 0 mm - 800 mm
... 概述
Micro-Epsilon 提供多种用于涂布线的厚度测量系统，可满足不同的需求与应用场景。thicknessCONTROL C 型支架专为干涂层等苛刻环境设计。其坚固的框架和集成温度补偿可在较高环境温度下仍保证高测量精度。系统可根据应用定制，支持不同薄膜宽度并最多扩展至 8 条测量通道。
主要特点
- 用于涂覆阳极/阴极薄膜的高精度厚度测量系统
- 传感器技术：光谱共焦（confocal）传感器
- 适用于干涂层过程的厚度测量与控制
- 坚固设计，具有集成温度补偿
- 厚度测量范围起始约
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 2.5 mm
测量精度: 0.4 µm
测量频率: 1 Hz - 10,000 Hz
... 概述
thicknessGAUGE 传感器系统用于在线测量带材的厚度。针对具有不同表面特性的薄膜厚度测量，提供多种型号，具有不同的传感器类型、测量范围和测量宽度。该系统采用两个距离传感器，可高精度检测带材厚度。传感器相互精确对准并已在出厂时校准。通过线性轴可移动 thicknessGAUGE 传感器系统，以测量整个带材宽度上的厚度。其极其紧凑的结构便于在狭小的安装空间内集成。
使用与变体
thicknessGAUGE 可用于固定轨测量，例如中心线（中心厚度）或边缘厚度测量。作为替代，传感器系统也可用于横向（traverse）厚度测量。由于其多功能性，thicknessGAUGE ...
MICRO-EPSILON/米铱