光学测厚仪

测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz

... thicknessGAUGE C.L传感器系统使用激光三角测量传感器进行厚度测量。这些激光传感器能在高速下实现高测量率。thicknessGAUGE.laser系列以良好的性价比给人留下深刻印象，最好用于普通表面的厚度测量，如塑料、木材和金属。 thicknessGAUGE传感器系统可用于带材加工和板材生产，以连续测量单个工件的厚度。 在单个测量点上连续测量厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

测量范围: 2 mm
测量精度: 4 µm
测量宽度: 200 mm - 400 mm

... thicknessGAUGE C.C传感器系统使用共聚焦色度位移传感器进行厚度测量。这些传感器使测量工作具有出色的准确性和高测量率。此外，这种创新的测量技术可以测量反射和闪亮的表面，以及（半）透明的测量对象。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产，以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 具有记录和过程控制的功能。 文章数据库 生产档案 统计评估 返回生产的极限值监测（可选现场总线接口） 测量系统能力的验证 ...

测量范围: 8 mm
测量精度: 0.8 µm
测量频率: 100 Hz

... thicknessGAUGE C.LP传感器系统使用激光轮廓扫描仪进行厚度测量。这些扫描器在被测表面上投射出一条激光线。激光线可以补偿板带的倾斜，并实现轮廓的平均化。激光线测量技术使得测量结构性材料的厚度成为可能，如压花表面和穿孔板。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产，以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

测量范围: 2 µm - 2,800 µm

... 漆面检测仪(P.I.G.) - SAPIG548 涂料检测仪是对多层涂料系统的单层厚度进行检测的最佳设备。本仪器可对各种基材（钢铁、有色金属、塑料、木材、混凝土、石膏等）进行2-2800μm范围内的涂层厚度检查。通过内置的显微镜可以测量每一层的厚度。 该测试是破坏性的。 ...

测量范围: 2 µm - 2,000 µm

Elcometer 121 涂层观测仪有两种型号可选，用来测量一层或多层涂层的厚度。 两种型号都自带照明式带格线的显微镜。 高级型还自带刀盘，可在三种刀片之间轻易选择，配合十字划割附着力测试仪使用。 布局紧凑，使用方便，适合于狭小空间 阳极氧化铝制成，经久耐用 LED超亮光源，观测清晰 高级型可带有一个十字划割刀片和三个标准刀片，安装紧固，仅仅旋转一下刀盘，即可更改刀具。

... FT110A XRF 涂层测厚仪具有全新的自动对焦功能，可在几秒钟内自动对准样品获取光学图像。无需手动调整，因此产量更高。 操作简便 样品放在平台上后，会自动显示样品的光学图像。 10 秒内精确测量 50 纳米金镀层厚度 优化的几何形状即使在微光束下也能提供更高的灵敏度，使用 0.1 或 0.2 毫米的圆形准直器可实现更高的测量精度。 无需标准样品即可测量 通过扩展 FP 软件，可以在没有厚度标准样品的情况下进行测量。可轻松测量多层薄膜和合金薄膜。 使用宽视角系统（选件）轻松定位 利用新的宽视角系统（选件），可以观察整个样品图像（最大尺寸为 ...