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电容测厚仪
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测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz
... thicknessGAUGE C.L传感器系统使用激光三角测量传感器进行厚度测量。这些激光传感器能在高速下实现高测量率。thicknessGAUGE.laser系列以良好的性价比给人留下深刻印象,最好用于普通表面的厚度测量,如塑料、木材和金属。 thicknessGAUGE传感器系统可用于带材加工和板材生产,以连续测量单个工件的厚度。 在单个测量点上连续测量厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备,又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 3 mm
测量精度: 0.3 µm
测量频率: 3.9 kHz
... thicknessGAUGE O.EC是一个紧凑的在线测量系统,用于精确测量厚度不超过3毫米的塑料薄膜和板材。 用于精确测量塑料薄膜和板材的厚度,其材料厚度最大为3毫米。这个 这个紧凑的系统由一个坚固的底架、一个集成控制柜和一个测量辊组成。 测量辊,在combiSENSOR KSS6430的基础上工作。它根据功能原理检测 它根据右侧解释的功能原理检测测量对象的厚度。它与制造过程中的 在制造过程中与测量辊相匹配,以便提供最高的精度,即使在这个设备级别中也是如此。 thicknessGAUGE O.EC可以生成材料厚度的横向剖面图,即使是在这个设备级别中。 和任何宽度位置的纵向轮廓。 测量数据显示在供货范围内的触摸屏IPC上。 通过可选的网络或现场总线接口, ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 1.5 mm - 3 mm
测量精度: 3 µm - 6 µm
测量频率: 20 Hz - 5,000 Hz
... 产品概述
capaNCDT DTV 系统采用电容式位移传感器进行非接触制动盘厚度偏差(DTV)测量。系统支持旋转制动盘的同步多轨测量,可用于试验台/车载测试,并提供便携 DTV 测量箱用于现场质量检测和保修检查。
主要应用
- 试验台质量控制
- 车载道路测试与研发
- 维修车间检查与保修核查
- 制动系统的开发与耐久性测试
传感器方案(CSH1,4FL)
CSH1,4FL ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量精度: 0.2 µm
测量频率: 100 Hz
分辨率: 10 nm
... 产品概述
TFG6220 电容式系统用于高精度测量导电薄膜(例如电池薄膜)的厚度。外部真空装置将样品吸附并拉平,以提供无皱的参考面。系统为预装配设计,适用于离线随机抽样的质量检验,便于快速部署使用。
测量功能
- 通过真空平整薄膜以消除褶皱并确保可重复的定位
- 测量支架配备上下两只电容传感器及集成测量插件以便于参考定位
- 通过 sensorTOOL(网页界面)进行数据采集与可视化
应用
适用于导电薄膜厚度的离线快速检测,用于质量控制和工艺监测,例如电池薄膜。
特性 ...
MICRO-EPSILON/米铱
测量范围: 30 µm - 6,000 µm
... FTS 是由微埃普西隆制造的一系列测量仪器。 当用于测量平面薄膜挤出生产线的厚度时,它具有较高的稳定性和准确性。 该装置确保了原材料消耗量低的附加质量。 它基于无排放测量技术,具有自适应遍历速度。 该仪器可轻松适应生产线,并提供可定制的接口。 FTS 的薄膜厚度为 300μm 至 6mm,最大宽度为 3000mm。 它的最大喂食速率为14米/分钟。 ...
MICRO-EPSILON/米铱
... K-500 Rotomat KT是一款全新设计的厚度测量仪,用于吹膜生产线。 K-500的电容式厚度传感器由一个表面非常光滑的烧结陶瓷制成的盖子保护。尽管K-500经常与薄膜接触,但这使得厚度测量的磨损程度极低。 第三代Rotomat KT的标准配置是一个虚拟数据处理器。所谓的VDP程序在Windows PC的后台运行,类似于打印机的驱动程序。这个在Windows XP或更高版本上运行的Win32应用程序,构成了生产线控制系统和测厚仪以及最多两个可选的宽度测量单元FE-8之间的接口。 ...
测量范围: 0 µm - 300 µm
测量精度: 0.2 µm
测量宽度: 100 mm
... 产品描述
TSM 厚度剖面测量系统(GPA EVO II)是一款面向吹塑和浇铸薄膜制造商的离线实验室级薄膜厚度剖面分析仪。该系统结合了非接触电容式和千分表式传感器、自动校准功能以及集成的 GPA-Win 软件,可在整个薄膜剖面上提供微米级的可重复测量。适用于质量控制、实验室测试和工艺验证,支持独立的厚度核查以保障生产控制并满足 ISO/DIN 合规要求。
主要特点
- 测量类型:用于吹塑和浇铸薄膜的离线厚度剖面测量
- 测量精度:±0.2