Keller ITS密封温度计

温度: 500 °C - 3,000 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 10, 20 ms

...

温度: 900 °C - 3,200 °C
分辨率: 0.1 °C
频谱响应: 0.9 µm - 1.05 µm

... >反射环境辐射与环境 温度补偿

• 超温信号：内部温度 > 80 °C 时模拟输出 > 20.5 mA
• 维护功能：模拟测量值或电流信号
• ATD（自动温度检测）：用于间歇工艺的自动温度识别

温度: 1,000 °C
精确度: 0.35 %
分辨率: 0.2 °C

... CellaCrystal PX 44是为硅和碳化硅晶体生产中的光学 温度测量而开发的。校准特别适合于生长过程。由于混合信号评估在整个测量范围内具有< 0.1 K的恒定高分辨率，以及恒定光传感器技术带来的非常高的长期稳定性，该设备满足了对必要的测量精度的高要求。 专题报道: PX 44 AF 4 用于硅晶体生产的特殊校准 PX 44 AF 7 用于碳化硅生产的特殊校准 高计量分辨率的混合信号评估 高长期由于自热极小，因此具有稳定性 可聚焦光学器件，可精确调整测量距离 标准：IO- ...

温度: 500 °C - 1,400 °C
频谱响应: 1.5, 1.9 µm
响应速度: 30 ms

... li>环境 温度：0 - 65 °C；存储 温度：-20 - +80 °C

温度: 750 °C - 2,400 °C
频谱响应: 0.95 µm - 1.05 µm
响应速度: 10 ms

... 双色、单色 1、单色 2

• 超温信号：若内部温度超过 80 °C，模拟输出显示 > 20.5 mA
• 服务功能：测量值或电流信号模拟
• ATD（自动温度检测）：用于间歇过程的自动温度检测

• 高温计

温度: 800 °C - 2,400 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 20 ms

... ；线性化功能

• 过温信号：若内部温度超过 80 °C，模拟输出显示 > 20.5 mA
• 服务功能：模拟测量值或电流信号
• ATD（自动温度检测）功能：用于断续工艺的自动温度检测

温度: 650 °C - 2,400 °C
频谱响应: 0.95, 1.05 µm
响应速度: 10 ms

... 产品概述
CellaCast PA 83 辐射 温度计专为自动铸造机（塞头和包底铸造）上的熔融金属 温度测量而开发。其矩形测量区域可在浇注流位置波动时仍提供可靠的测量值。

主要特性

• 测量范围：650 至 1,700 °C（其他分段可达 2,400 °C）
• 用于浇注流温度测量的无磨损、免维护光学测量系统
• 矩形测量区，即使浇注位置波动亦能可靠测量
• ATD

温度: 400 °C - 2,000 °C
响应速度: 100 ms

... 牙纹 8 引脚连接

温度: 500 °C - 2,500 °C
精确度: 0.75 %
分辨率: 1 °C

... 背景辐射补偿；报警触点的极限值与工作模式；ATD 功能参数（可选）；线性化功能；LED 状态显示；电流与 温度仿真； 温度单位 °C/°F；摄像机型号附加：TBC 功能与白平衡

功能

• 过温信号：当内部温度超过 80 °C 时，模拟输出显示 > 20.5 mA
• 维护功能：可模拟测量值或电流信号
• ATD（自动温度检测）：适用于间断工艺的自动温度检测

温度: 700 °C - 1,700 °C
频谱响应: 0.8, 1.05 µm
响应速度: 20, 10 ms

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功能与显示
4位LED显示（红色），状态指示灯（2），3个控制按键
板载功能：污染监测阈值、烟尘因子、ATD（自动 温度检测）、测量值/电流仿真、内部高温时的报警行为（内部 温度 > 80 °C）

通用参数
连接：M12，8针
环境 温度：0 – 65 °C
储存 温度：-20 – +80 ...