双色高温计 CellaCrystal PX 44
数码显示带激光指针IO-Link

双色高温计 - CellaCrystal PX 44 - Keller Pyrometer Systems - 数码显示 / 带激光指针 / IO-Link
双色高温计 - CellaCrystal PX 44 - Keller Pyrometer Systems - 数码显示 / 带激光指针 / IO-Link
双色高温计 - CellaCrystal PX 44 - Keller Pyrometer Systems - 数码显示 / 带激光指针 / IO-Link - 图像 - 2
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产品规格型号

所用技术
双色
显示
数码显示
目标
带激光指针
通信协议
IO-Link
保护程度
IP65
形状
固定
其他特性
精准
温度

1,000 °C
(1,832 °F)

最少: 750 °C
(1,382 °F)

最多: 3,000 °C
(5,432 °F)

精确度

0.35 %

分辨率

0.2 °C
(32.36 °F)

频谱响应

最少: 1 µm

最多: 1.1 µm

响应速度

10 ms

最少: 10 ms

最多: 10 ms

产品介绍

CellaCrystal PX 44是为硅和碳化硅晶体生产中的光学温度测量而开发的。校准特别适合于生长过程。由于混合信号评估在整个测量范围内具有< 0.1 K的恒定高分辨率,以及恒定光传感器技术带来的非常高的长期稳定性,该设备满足了对必要的测量精度的高要求。 专题报道: PX 44 AF 4 用于硅晶体生产的特殊校准 PX 44 AF 7 用于碳化硅生产的特殊校准 高计量分辨率的混合信号评估 高长期由于自热极小,因此具有稳定性 可聚焦光学器件,可精确调整测量距离 标准:IO-Link 接口和模拟输出

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展厅

该卖家将出席以下展会

Shenzhen International Semiconductor &amp; IC Exhibition
Shenzhen International Semiconductor &amp; IC Exhibition

9-11 9月 2026 Shenzhen (中国大陆)

Inter Foundry 2026
Inter Foundry 2026

10-12 9月 2026 Coimbatore (印度)

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。