研究粒度分析仪

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< li>颗粒粒径与形状分析，测量范围 0.9 µm 至 8 mm（依赖所用模块） li>< li>高光学分辨率与高帧率（> 420 图像/s） li>< li>双相机技术：ZOOM 相机用于细颗粒，BASIC 相机用于大颗粒 li>< li>对宽分布或多峰分布的精确分析 li>< li>能检测并定量超大/超小颗粒及团聚体 li>< li>多种评估选项（尺寸模型、形状参数、颗粒库、单帧评估等） li>< li>测量速度快（约

... Morphologi 4 是一个全自动静态图像分析系统，可测量干粉颗粒，混悬液和滤膜上颗粒的粒径和形貌。它旨在满足多学科研发实验室的多样化需求，是昂贵且耗时的手动显微镜的理想替代工具。由于完全自动化运行且数据分析简单，与手动方法相比，节约大量的时间。仅需简单标准化操作程序 (SOP) 的驱动操作，即可执行可靠的可重复测量。谨慎控制并审视所有关键因素，从分散状况、样品聚焦和光源一直到数据分析和报告，提供可靠的数据结果。 概述 颗粒粒度范围广泛，从 0.5 微米到 1300 微米以上，可对各种样品进行粒度测量 20 ...

... ul>< li>型号：Bettersizer 2600 Plus li>< li>技术：激光衍射 + 双摄像头动态成像（模块化） li>< li>平台总体能力：标称 0.02–3500 μm（视配置与应用而定） li>< li>激光衍射典型测量范围：0.02–2600 ...

... A-22 NeXT 粒度仪 - 自动粒度分析简便无与伦比 A-22 NeXT 的两种型号是生产、质量控制、研发或制造过程控制中进行高效粒度分析的理想之选。 两种粒度仪的设计和测量范围各不相同。 A-22 NeXT Micro 只需一个光源和一个检测器，就能稳定可靠地测量 0.5 至 1500 μm 的范围。 A-22 NeXT Nano 通过智能布置额外的检测器系统，扩大了较低的测量值。这样就可以记录更大的散射角，最小可达 0.01 μm。同时，测量上限也提高到了 3800 μm。 符合您要求的型号具有所有决定性的优势：操作和清洁特别方便、分析时间短、结果重复性可靠，并可记录湿法分散过程中的温度和 ...

... FRITSCH A-28 用于干法和湿法测量，是一款理想的粒度仪，适用于所有需要精确、可重复的粒形和粒度测量结果的应用场合。动态图像分析光学过程可提供宽测量范围的结果，提供多种形状参数和粒度评估可能性。根据样品数量的不同，测量时间不超过 5 分钟。结果可立即获得。 您的优势对于质量控制、研究和实验室中 5 µm - 20 mm 粒径的不同测量任务，具有极大的灵活性，是筛分法的一种非常简便、经济的替代方法。 轻松实现悬浮液和乳浊液的湿法测量 A-28 与新型湿法分散装置结合使用，几乎无需维护，是测量悬浮液和乳浊液的粒形和粒度的理想之选。 湿法分散尤其适用于在水中或其他液体中不发生反应的细颗粒、流动性差、易结块或粘性材料。 粉末和散装固体的高效干法测量 A-28 ...

... FRITSCH A-28 是一款理想的颗粒测定仪，用于快速分析干燥、自由流动材料的颗粒形状和粒度。通过对颗粒形状和粒度的光学分析，您可以准确快速地识别受损颗粒、杂质、团聚物或过大或过小颗粒，并在单个图像中轻松查看。根据样品数量的不同，测量时间不超过 5 分钟。测量结果可立即获得。因此，A-28 是便于质量控制、研究和实验室工作的完美测量仪器，也是筛分的快速替代方案。 您的优势 - 20 μm - 20 mm 的超宽测量范围，可单独调节 - 3 个远心镜头可实现最高的形状精度 - 每秒最多可生成 ...

... 選配的現場驗證工具可在不中斷運作的情況下進行現場性能檢查。 li>< li> 高精度雷射技術 li>< li>配備單色雷射可將顆粒物成分的影響降至最低確保結果的一致性與可靠性。 li>< li> 維護需求低使用壽命長 li>< li>無需耗材。耐用型雷射器使用壽命超過 ...

... 通过 QAL1 认证和美国环保局批准的 PM 监测器，用于测量环境空气中的颗粒物浓度。 19 英寸机架式 PM10 和 PM 2.5 光学微粒分析仪，配有采样探头、气象传感器和附件；客户可自行配置（固件等）。 - RS-232（Gesytec） - 可远程访问的全自动监测系统 - 保护光学元件的吹扫空气回路 - 对所有光学和气动元件进行自检，以达到高质量标准 - 在光学单元中分析总入口流量 - 多功能数据采集和通信（GSM 数据记录器） 优点 适用于 PM 10 和 PM2.5 监测，符合空气质量监测标准 - ...

... SMPS+C 系统采用 19 英寸机架式设计，有 5420-TR-CEN 型（尺寸范围为 10 纳米至 1,094 纳米，完全符合 CEN/TS 17434:2020 标准）和 5420 型（带 M DMA，尺寸范围为 5 纳米至 350 纳米）两种型号可供选择。它专为无人值守全天候实时监测环境空气中的 UFP 而设计。 特点 精确的纳米粒子测定和计数：正丁醇基 CPC，配有可交换的维也纳莱施尔型 DMA - 符合 CEN/TS 标准的 L-DMA：10 ... 1,094 纳米 ...

... Winner901 纳米粒度电位分析仪是 Winner Particle 推出的一款新型高端动态光散射粒度分析仪，具有 zeta 电位和纳米粒度双重测试功能。 Winner901 采用电泳光散射技术测量 zeta 电位并获得等电点。与国内外其他同类仪器相比，具有显著的优势，可与激光粒度分布分析仪配套用于各种实验。 (1) 测试原理 利用电泳光散射和光子相关光谱原理，根据颗粒在液体中的电泳迁移速度来测定颗粒 Zeta 电位的大小。颗粒电泳运动的种群速度以及激光照射这些颗粒所引起的散射光的多普勒位移量各不相同。光子相关光谱法可根据频移分析粒子 ...

... 可选。 li>
规格 / 技术参数

< li>型号：Winner2309A li>< li>原理：Mie 与 Fraunhofer 散射 li>< li>测量范围：湿法 0.01–3500 μm；干法 0.1–3000 μm li>< li>测试速度：最快

... 应用领域

< li>固体粉体、悬浮液与乳液 li>< li>化工 li>< li>磁性材料 li>< li>医药/制药 li>< li>水泥与建材 li>< li>涂料与颜料 li>< li>食品 li>< li>农药 li>< li>核工业 li>< li>电子与电池材料 li>< li>纸业 li>< li>冶金与陶瓷 li>< li>化妆品 li>< li>研磨材料 li>< li>金属及非金属粉体（如碳酸钙、滑石、白陶土、铝、稀土） li>< li>催化剂、发泡剂、耐火材料、填料