激光衍射粒度分析仪 Bettersizer 2600 Plus

动态图像分析动态图像分析质量控制

概述
Bettersizer 2600 Plus 在一套模块化平台上集成了激光衍射与双摄像头动态成像，能够在宽广的测量范围内（约 0.02–3500 μm，视应用而定）提供粒度与形状的互补表征。系统支持湿式与干式分散单元，以适应不同样品类型与体积。

主要特性与优势

• 尺寸与形状一体化分析：激光衍射用于统计粒径分布，双摄像头成像用于单颗粒尺寸/形状指标及可追溯的图像证据。
• 广泛的测量覆盖：可在单一平台上覆盖从亚微米细颗粒到粗颗粒（依应用而定）。
• 模块化分散：可替换的湿式与干式单元，便于样品制备与溶剂兼容性处理。
• 高探测器数与宽角收集，确保在广泛尺寸范围内获得稳健的 PSD。
• 成像证据：颗粒图像可识别团聚体、过大颗粒与不规则形貌，支持 QC 与研发流程。

先进的激光衍射系统
激光衍射模块采用专利的傅里叶/逆傅里叶光学结构和 92 探测器阵列以捕获全面的散射信号。根据需要采用 Mie／Fraunhofer 模型进行分析，得到可重复的粒径分布。

针对光学复杂样品的可靠性
仪器具备折射率测量功能，可验证用于 Mie 模型的光学输入参数，从而在处理光学复杂或未知材料时提高结果可靠性。

性能要点

• 覆盖从细颗粒到粗颗粒的测量范围；完整测量在约 10 秒内可完成（视应用而定）。
• 设计以满足 QA/QC 与研发的精度与重复性需求（相关报告中在适用情形下显示优于 0.5% 的性能）。

双摄像头动态成像系统
PIC‑1 双摄像头成像模块在测量过程中采集高速颗粒图像，生成尺寸与形状参数并保存可追溯的单颗粒图像。模式包括仅成像或成像与激光衍射联合测量。

模块化设计与分散灵活性
平台支持多种湿式与干式分散单元，可根据样品基体、样品量与溶剂选择配置，使单台仪器覆盖多种工业应用。

软件与数据
联合测量在单一工作流中输出互补的尺寸与形状信息。颗粒图像与统计数据可导出，用于审计追踪、QC 文档和深入形态学分析。

技术规格

• 型号：Bettersizer 2600 Plus
• 技术：激光衍射 + 双摄像头动态成像（模块化）
• 平台总体能力：标称 0.02–3500 μm（视配置与应用而定）
• 激光衍射典型测量范围：0.02–2600 μm（系统相关）
• 动态成像（PIC‑1）：2–3500 μm
• 探测器：92‑探测器阵列
• 角度覆盖：约 0.016°–165°
• 样品池：倾斜设计以减少全反射
• 成像倍数：0.5× 与 10×；帧率：70 fps
• 报告的测量时间：完整测量最快约 10 秒（视应用而定）
• 精度 / 重复性：报告在适用条件下优于 0.5%
• 成像输出：最多 32 项尺寸与形状参数及颗粒图像
• 分散：支持模块化湿式和干式单元
• 标准：激光衍射设计符合 ISO 13320（视适用而定）
• 光学系统：专利傅里叶 / 逆傅里叶光学
• 制造商：Bettersize Instruments