实验室粒度分析仪

... 新型 CAMSIZER X2 可以显著改善细粉的质量控制：更精确、更快地分析颗粒尺寸和颗粒形状，有助于提高产品质量，减少不良品质，节省劳动力成本、能源和原材料。 CAMSIZER X2 的设计基于久经考验的光学粒子测量系统，但针对更精细的样品（从 0.8 µm 到 8 mm）进行了优化。 不仅提高了光学分辨率，还提供了新的材料送料选项，从而扩大了应用范围。 细粒子往往会聚集，因此难以记录单个粒子的属性。 因此，重要的是有各种可能性将样品送到分析区域，以便能够为每种材料找到所需的聚集物分散与个别粒子的不希望破坏之间的最佳状态。 ...

... Microtrac MRB集成了其高精度三激光衍射技术及其多功能图像分析能力，为颗粒表征从业者提供了独特的测量体验。该专利同步测量技术允许用户在同一时间对单个样品进行激光衍射测量和图像分析测量: 一个样品 一个光学阵列 一个流动路径 一个样品池 一次分析 SYNC粒度分析仪非常适合常规的QC应用。它还为研究人员开发新材料和新工艺提供了有价值的信息。强大的分析软件界面提供颗粒大小分布信息以及多种形态颗粒参数。专利的混合程序允许用户检查材料的大小范围从0.01微米到4000微米。 ...

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< li>颗粒粒径与形状分析，测量范围 0.9 µm 至 8 mm（依赖所用模块） li>< li>高光学分辨率与高帧率（> 420 图像/s） li>< li>双相机技术：ZOOM 相机用于细颗粒，BASIC 相机用于大颗粒 li>< li>对宽分布或多峰分布的精确分析 li>< li>能检测并定量超大/超小颗粒及团聚体 li>< li>多种评估选项（尺寸模型、形状参数、颗粒库、单帧评估等） li>< li>测量速度快（约

... 适用于大颗粒干粉样品的常规颗粒粒度分析 Aero M 干粉分散器支持使用 Mastersizer 3000E 激光衍射颗粒粒度分析仪测量大颗粒干粉样品。 其简单设计可确保轻松使用和维护，从而在常规生产或质量控制操作期间提供稳健、可重现的颗粒粒度分布测量。 Aero M 的设计可支持测量干粉样品的颗粒粒度和粒度分布。 其模块化设计辅助措施支持对其进行配置，以在不同应用中实现稳健的颗粒粒度测量，同时确保可在常规使用中轻松维护。 可实现快速、可重现的测量，而且无需液体分散剂。 可以测量较大的样品块，从而确保实现良好的取样。 测量可重现性通过测量期间的样品分散设置的软件验证来维护。 通过购买其他样品托盘和粉末料斗可针对不同应用进行配置。 通过使用陶瓷文氏管分散器可测量研磨样品。 工作原理 测量大颗粒材料时，使用颗粒粒度和粒度分布测量的干粉分散具有优势，因为可以测量大块的粉末。 ...

... 全自动亚筛分粒度分析仪 通过直观触摸屏独立操作 高质量的质量流量控制器和高灵敏度传感器，可实现气压控制与监测的最高精度 快速操作：支持实时数据监控，数分钟内生成结果 Fisher 映射工具，可报告等效 Fisher 数结果 符合 ASTM 标准 B330-12、B330-15、C721-15 和 E2980-15 Micromeritics Sub-Sieve AutoSizer (SAS) II 用于通过空气透过法测定粒径、表面积和粉末床孔隙率。 作为广泛使用的 ...

... X射线沉降法测定无机颗粒粒度分布 颗粒直径从 0.1 到 300 µm 大容量分散（50 mL）设计，适用于对异质材料进行代表性采样 完整的颗粒物计量——包括超出直接测量范围的颗粒物 可用的自动化功能：可以对多达 18 个样品进行无人值守测量 符合 ISO 13317-3 标准、ASTM B761 标准以及先进陶瓷委员会 C28 的规定 在全球众多实验室中，Micromerietics SediGraph 持续被用于开展粒度分析。无论是在严酷的生产环境中，还是在受控的实验室环境中，SediGraph ...

... ul>< li>型号：Bettersizer 2600 Plus li>< li>技术：激光衍射 + 双摄像头动态成像（模块化） li>< li>平台总体能力：标称 0.02–3500 μm（视配置与应用而定） li>< li>激光衍射典型测量范围：0.02–2600 ...

... A-22 NeXT 粒度仪 - 自动粒度分析简便无与伦比 A-22 NeXT 的两种型号是生产、质量控制、研发或制造过程控制中进行高效粒度分析的理想之选。 两种粒度仪的设计和测量范围各不相同。 A-22 NeXT Micro 只需一个光源和一个检测器，就能稳定可靠地测量 0.5 至 1500 μm 的范围。 A-22 NeXT Nano 通过智能布置额外的检测器系统，扩大了较低的测量值。这样就可以记录更大的散射角，最小可达 0.01 μm。同时，测量上限也提高到了 3800 μm。 符合您要求的型号具有所有决定性的优势：操作和清洁特别方便、分析时间短、结果重复性可靠，并可记录湿法分散过程中的温度和 ...

... FRITSCH A-28 用于干法和湿法测量，是一款理想的粒度仪，适用于所有需要精确、可重复的粒形和粒度测量结果的应用场合。动态图像分析光学过程可提供宽测量范围的结果，提供多种形状参数和粒度评估可能性。根据样品数量的不同，测量时间不超过 5 分钟。结果可立即获得。 您的优势对于质量控制、研究和实验室中 5 µm - 20 mm 粒径的不同测量任务，具有极大的灵活性，是筛分法的一种非常简便、经济的替代方法。 轻松实现悬浮液和乳浊液的湿法测量 A-28 与新型湿法分散装置结合使用，几乎无需维护，是测量悬浮液和乳浊液的粒形和粒度的理想之选。 湿法分散尤其适用于在水中或其他液体中不发生反应的细颗粒、流动性差、易结块或粘性材料。 粉末和散装固体的高效干法测量 A-28 ...

... FRITSCH A-28 是一款理想的颗粒测定仪，用于快速分析干燥、自由流动材料的颗粒形状和粒度。通过对颗粒形状和粒度的光学分析，您可以准确快速地识别受损颗粒、杂质、团聚物或过大或过小颗粒，并在单个图像中轻松查看。根据样品数量的不同，测量时间不超过 5 分钟。测量结果可立即获得。因此，A-28 是便于质量控制、研究和实验室工作的完美测量仪器，也是筛分的快速替代方案。 您的优势 - 20 μm - 20 mm 的超宽测量范围，可单独调节 - 3 个远心镜头可实现最高的形状精度 - 每秒最多可生成 ...

... 通过 QAL1 认证和美国环保局批准的 PM 监测器，用于测量环境空气中的颗粒物浓度。 19 英寸机架式 PM10 和 PM 2.5 光学微粒分析仪，配有采样探头、气象传感器和附件；客户可自行配置（固件等）。 - RS-232（Gesytec） - 可远程访问的全自动监测系统 - 保护光学元件的吹扫空气回路 - 对所有光学和气动元件进行自检，以达到高质量标准 - 在光学单元中分析总入口流量 - 多功能数据采集和通信（GSM 数据记录器） 优点 适用于 PM 10 和 PM2.5 监测，符合空气质量监测标准 - ...

... Winner901 纳米粒度电位分析仪是 Winner Particle 推出的一款新型高端动态光散射粒度分析仪，具有 zeta 电位和纳米粒度双重测试功能。 Winner901 采用电泳光散射技术测量 zeta 电位并获得等电点。与国内外其他同类仪器相比，具有显著的优势，可与激光粒度分布分析仪配套用于各种实验。 (1) 测试原理 利用电泳光散射和光子相关光谱原理，根据颗粒在液体中的电泳迁移速度来测定颗粒 Zeta 电位的大小。颗粒电泳运动的种群速度以及激光照射这些颗粒所引起的散射光的多普勒位移量各不相同。光子相关光谱法可根据频移分析粒子 ...

... 可选。 li>
规格 / 技术参数

< li>型号：Winner2309A li>< li>原理：Mie 与 Fraunhofer 散射 li>< li>测量范围：湿法 0.01–3500 μm；干法 0.1–3000 μm li>< li>测试速度：最快

... 应用领域

< li>固体粉体、悬浮液与乳液 li>< li>化工 li>< li>磁性材料 li>< li>医药/制药 li>< li>水泥与建材 li>< li>涂料与颜料 li>< li>食品 li>< li>农药 li>< li>核工业 li>< li>电子与电池材料 li>< li>纸业 li>< li>冶金与陶瓷 li>< li>化妆品 li>< li>研磨材料 li>< li>金属及非金属粉体（如碳酸钙、滑石、白陶土、铝、稀土） li>< li>催化剂、发泡剂、耐火材料、填料

... 科迈斯开发的 OAX 颗粒分析系统可以对移动颗粒进行精确分析和识别。后者可根据材料类型或材料组合、尺寸、形状、结构和在窗口分析仪中的位置进行识别。 您既可以在实验室规模上使用 OAX 系统，也可以将其安装在连续加工过程中。颗粒分析的范围为 0.5 毫米至 500 毫米。 OAX 颗粒分析系统如何工作？ 无论您是在实验室规模上进行研究，还是对特定工艺中的颗粒进行持续分析，物料都会通过顶部振动给料机输送。OAX 系统分析仪内部安装了一个摄像头。光学系统在动态条件下采集照片。该系统由基于计算机的分析软件包操作，软件包采用了复杂的软件算法。 您可以使用 ...