光学粒度分析仪 CIP
用于研究带数据记录器粒子形状

光学粒度分析仪 - CIP - ENVEA - 用于研究 / 带数据记录器 / 粒子形状
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产品规格型号

所用技术
光学
应用
用于研究
其他特性
粒径分布, 粒子形状, 带数据记录器

产品介绍

产品概述
Cloud Imaging Probe(CIP)是一款机载光学阵列探头,用于飞行中测量云物理和大气研究中的粒子尺寸、形态及液态水含量(LWC)。粒径范围:25 µm–1550 µm(可选 15 µm–930 µm)。LWC:0.01–3 g/m3。对气速度能力取决于配置(通常 10–300 m/s)。

特点与优势
  • 针对增长阶段优化:提供 25 µm–1550 µm 的粒径分布,或通过可选 15 µm 分辨率获得 15 µm–930 µm 范围。
  • 高质量粒子图像:64 元线性光电探测器阵列生成阴影图像;可选灰度模式可增强区域密度细节,便于粒子类型识别。
  • 环境与飞行数据:记录环境温度、相对湿度、静压和动压、飞行器速度与高度以及 LWC。
  • 生命周期支持:提供可选 Lifecycle Care Program,支持仪器在任务期内的完整性与性能维护。


技术
  • 粒子成像:通过准直激光束通过的粒子阴影投影到 64 元线性光电探测器阵列上进行检测。
  • 图像重建:粒子图像由连续的“切片”重构,每个切片代表 64 元阵列在某一时刻的状态。
  • 激光:用于成像的 658 nm,30 mW。


主要应用
  • 气候模型与辐射强迫研究
  • 云物理学与微物理过程研究
  • 天气改造与大气观测活动


PADS – Particle Analysis and Display System
CIP 支持可选的 PADS 软件,提供用于控制、实时显示和数据记录的虚拟仪表面板。
  • 开始/停止数据记录与采样
  • 实时查看粒子图像
  • 显示颗粒体积与数浓度、Median Volume Diameter (MVD) 和 Effective Diameter (ED)
  • 比较热丝传感器测量与 CIP 计算的 LWC
  • 监控仪器参数(如激光电流、电子电压)
  • 回放记录数据以进行飞行后分析


附件
  • PADS 软件与笔记本电脑
  • 数据采集系统


技术规格(摘要)
  • 技术:64 元光学阵列探头(62 个分级元件 + 端部二极管抑制)
  • 测量粒径范围:标准 25 µm–1550 µm;可选 15 µm–930 µm(等效标称范围:12.5 µm–1.55 mm 与 7.5 µm–930 µm)
  • 液态水含量(LWC):0.01–3 g/m3(热丝传感器)
  • 对气速度范围:典型 10–300 m/s,视分辨率与探头端配置而定
  • 尺寸箱数:62
  • 采样频率:一维直方图 0.05–25 Hz;二维图像数据间隔可变(取决于缓冲区)
  • 激光:658 nm,30 mW
  • 辅助参数:环境温度、相对湿度、静压与动压、飞行器速度与高度
  • 数据接口:RS-422(二维数据高速 4 Mb/s;系统数据 56.6 kb/s)
  • 最大浓度处理:取决于粒径与配置,可达约 500 particles/cm3
  • 重量:约 9.5 kg(DMT 罐中 21 lbs)
  • 电源:28 VDC 主电源;探头约 11 A;防冰加热器根据端头类型需额外电流
  • 工作条件:-40 °C 至 +40 °C;0–100% RH 非冷凝;高度最高至 50,000 ft

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