高解析度定位系统

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多轴定位系统
多轴定位系统
782300:150.26

重复精度: 1 µm
载荷: 15 kg
运行行程: 200 mm - 1,000 mm

... 用于高动态应用的XYZ龙门架 可定制的 - 高精度和动态应用的理想选择 - 1300 x 800 mm的超大行程范围 - 高加速度和速度与高精度相结合 这种龙门架可以在1300 x 800毫米的范围内实现高动态运动。Z轴上的定制加工头或传感器在花岗岩上的载体上快速、平稳地移动。异型导轨直接安装在花岗岩上,提供最佳的运行特性,以实现巨大的可重复的亚微米结果。 规格 - 行程:800 x 1300 x 200 mm - 重复性:1 - 0.7 µm - 速度:500 ...

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Steinmeyer Holding GmbH
多轴定位系统
多轴定位系统
782430:002.26

重复精度: 0.3 µm - 2.5 µm
载荷: 5 kg - 20 kg
运行行程: 100 mm - 720 mm

... 用于半导体的XYZ双检测门户 可定制的 - 是自动检测晶圆/半导体的理想选择 - 非常大的移动范围,每个都是2 x 720 x 720 x 100 mm - 允许同时整合两个过程 该检测系统由四个洁净室轴组成,可同时对多个物体进行自动测量。实现了高动态性和最高的可重复性。每侧有一个高分辨率的相机或传感器相对于样品移动,以检查几何形状,进行测量并记录特殊的质量特征。 规格 - 行程:2 x 720 x 720 x 100 mm - 2个X轴,每个轴用于扫描器/显微镜,最大重量为25公斤 - ...

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Steinmeyer Holding GmbH
多轴定位系统
多轴定位系统
782335:009.26

重复精度: 0.005 µm - 4.4 µm
载荷: 5 kg - 25 kg
运行行程: 100 mm - 365 mm

... 8轴定位系统/测角仪 可定制的 - 从不同的角度进行自动的8轴检查 - 同轴旋转系统,使摄像机/传感器/照明围绕一个共同的中心点旋转 - 是检测显示器的理想选择 这个8轴定位系统能够分析和检查不同的样品几何形状和其他部件。两个摄像头/传感器都可以在样品上倾斜并调整高度。此外,样品载体可以平行于测量面倾斜,以补偿各个样品之间的差异。XY Rz定位允许定制相机从空间辐射模式的任何角度对样品进行评估。 规格 - 行程:3° x 3° x 365° x 365 mm ...

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Steinmeyer Holding GmbH
XY轴定位系统
XY轴定位系统
782300:216.26

重复精度: 2 µm
运行行程: 65 mm
传送速度: 25 mm/s

... XY 实验室分析系统,带传感器支架和带孔径的 XY 平台 可定制: - 是设置和扩展高分辨率分析、扫描、显微镜检查和测量任务的理想之选 - 传感器或照相机附件 - 重复精度高达 2 微米 - 微米稳定性,可实现最高分辨率和精细成像 - 0.3 µm 的完美平面度,可承受 5 公斤以下的中等负荷 规格 - 行程:65 毫米 (XY) - 高精度:± 2 - ± 2.5 µm (XY) - 风速: 25 mm/s (XY) - Max.最后: 45 N (XY) - ...

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Steinmeyer Holding GmbH
3轴定位系统
3轴定位系统
782489:001.26

重复精度: 0.3 µm - 0.7 µm
运行行程: 200 mm
传送速度: 15 mm/s - 25 mm/s

... 用于高分辨率的 XYZ 显微镜和检测站 可定制: - 样品检测的理想选择 - 重复精度高达 0.3 µm - 将测量偏差降至 3 µm 以下 该 3 轴定位系统专为高精度计量应用而设计,在该应用中,平台在 Z 轴上将待测物体移动到传感器或照相机上。xy 平台由可靠的 KT310 和直流电机组成。 规格 - 行程:200 毫米(XY)/ 200 毫米(Z) - 重复精度: ± 0.3 - ± 0.7 µm (XY) - 定位速度:25 毫米/秒(XY)/15 ...

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Steinmeyer Holding GmbH
单轴定位系统
单轴定位系统
782300:212.26

重复精度: 0.002 µm - 2.4 µm
运行行程: 135 mm
传送速度: 10 mm/s - 50 mm/s

... 用于光学透镜、圆柱体定位的 X Phi 系统 可定制: - 圆形部件(如晶片、光学元件)光学测量的理想选择 - 通过高精度的行程旋转运动,节省了额外购买加载轴的费用 - 重复精度高达 0.0017 - 通过 X 精确移动 1.9 µm 至测量位置 该 X-Phi 定位系统由高精度、耐用的 PMT160 线性平台标准轴和 DTS130-HM 旋转轴组成。它非常适用于将试样精确移动到测量位置的测量应用,因此无需额外的进给轴。 规格 - 标准系统:PMT160-DC ...

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Steinmeyer Holding GmbH
XYZ轴定位系统
XYZ轴定位系统
782300:193.26

重复精度: 0.3 µm - 1.7 µm
运行行程: 100 mm - 300 mm
传送速度: 25 mm/s

... 用于检验和质量控制的 XYZ 系统 可定制: - 极高的跳动精度和重复精度,可达 0.3 µm - 使用经济高效的驱动装置,可定位高达 150 N 的负载 - 最高 50 mm/s 的高速度 - 将随机误差降至最低 - 易于集成,可与现有的摄像系统和传感器灵活组合 定位系统可沿三个线性轴定位。在该装置中,PMT160 线性平台通过转接支架安装在 KT470 十字工作台上。通过使用交叉滚轮,直线度和平面度的跳动误差很小。 规格 - 行程:300 毫米(XY)/ ...

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Steinmeyer Holding GmbH
XYZ轴定位系统
XYZ轴定位系统
782300:113.26

重复精度: 0.5 µm - 1.5 µm
运行行程: 50, 150, 300 mm
传送速度: 25 mm/s

... 用于实验室和晶片检测的 XYZ 系统 可定制: - 是设置和扩展应用的理想之选 - 重复精度高达 0.5 微米 - 以 50 mm/s 的相对较高定位速度实现最小步距和最高可靠性 - ± 0.5 µm 的完美平面度,可定位最大 150 N 的中等载荷 该 XY 组合带有独立的 Z 垂直单元,由 PMT160 的高精度和耐用的标准线性轴组成。该组合适用于所有要求完美平面度、最小俯仰和偏航公差以及平稳运行的应用。 规格 - 标准组件:PMT160-DC (XYZ) - ...

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Steinmeyer Holding GmbH
XZ定位系统
XZ定位系统
782300:186.26

重复精度: 0.4 µm - 2.2 µm
运行行程: 100 mm - 300 mm
传送速度: 1.12 mm/s - 25 mm/s

... XZ Labor- und Waferinspektion 系统 可定制: - 是设置和扩展应用的理想之选 - 重复精度高达 0.4 µm - 在 50 mm/s 的相对较高定位速度下,步距最小,可靠性最高 - ± 1 的完美平面度,可定位 5 公斤以下的中等载荷 XZ 组合包括 PMT160 的高精度和耐用标准线性轴。该组合适用于所有要求完美平面度、最小俯仰和偏航公差以及平稳运行的应用。 规格 - 标准组件:PMT160-DC (XZ) - 行程:300 ...

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Steinmeyer Holding GmbH
XYZ轴定位系统
XYZ轴定位系统
782300:202.26

重复精度: 0.3 µm - 0.5 µm
运行行程: 50 mm
传送速度: 30 m/s

... 用于实验室检测的 XYZ 定位系统 可定制: - 是设置和扩展高精度测量技术的理想之选 - 重复性极高,可达 0.3 µm - 在最高速度达 50 mm/s 的情况下,步距最小,可靠性最高 - 在定位高达 150 N 的中等载荷时,平面度达到 ± 0.5 该 XYZ 组合包括 PMT160 的高精度耐用标准线性轴,这些轴通过适配器支架安装在 KLT310 xy 平台上。这样就可以沿三个线性轴定位。 规格 - 标准组件:KT310-DC (X) / PMT160-DC ...

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Steinmeyer Holding GmbH
XYZ轴定位系统
XYZ轴定位系统

... 在科学和工业领域的许多应用中,样品或部件的定位需要两个以上的自由度。即使在极低的温度和狭窄的空间内,也必须以最高的精度移动有效载荷。 SmarActs 的低温定位系统具有模块化、精确、可定制和热管理等特点,可在定位或扫描任务中尽可能保持样品低温。 任何 XYZ 定位系统的核心部件都是线性平台。本例中使用的是 SLC-1720-CR。三个平台可以很容易地与支架和适配器板组合成紧凑的多轴装置,这些装置通常与客户装置中低温恒温器的冷指相连。 在设计需要在低温条件下精确运行的高分辨率定位系统时,必须确保平台的热负荷尽快转移到低温恒温器上,以减少由于平台和安装组件的热膨胀而导致的定位系统温度蠕变。 最重要的任务是将有效载荷的热量传递到安装底板,以确保作用点的温度恒定且较低。 ...

3轴定位系统
3轴定位系统
782462:002.26

重复精度: 1.5, 5.5 µm
运行行程: 76 mm
传送速度: 50 mm/s

... 在尽可能小的结构空间内实现产量最大化 这个高精度的定位系统是专门为EUV光刻技术的小型化和自动化而设计的,是一个补充性的偏振过滤器。它在大约120 x 180 x 31 mm的非常有限的空间内,最大限度地提高了曝光质量以及现有晶圆步进器的产量。为此,三个可独立定位的过滤器在光学系统的光束路径上移动。它可用于极端环境条件下的高分辨率工艺,如EUV和干燥以及无氧纯氮气氛。 优化极端环境下的精度 - 是自动EUV光刻技术中小型化的理想选择 - 在最小的空间(约120 ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
X光用定位系统
X光用定位系统
782409:002.26

重复精度: 1.4, 2.5 µm
运行行程: 25 mm
传送速度: 25 mm/s

... 用于计算机断层扫描器的X射线孔径控制 | 高分辨率X线性轴,大幅降低X射线剂量 - 实验室/分析 剂量最小,图像质量极佳 这种光圈控制为计算机断层扫描设定了全新的标准,以出色的低辐射剂量提供非常高的分辨率和低噪音的图像。当X射线源旋转时,运动装置会移动X射线孔径,以便将X射线束调整到所需的最小辐射剂量。在使用中,组件本身在病人周围的圆形路径上连续移动。一个特别的挑战是在大直径上的旋转所引起的横向于运动方向的高加速度。这种额外的负载需要一个特别稳定的组件,并有最小的误差空间。 ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
XY轴定位系统
XY轴定位系统
786001:002.26

重复精度: 1.5, 2.5 µm
运行行程: 50, 150 mm
传送速度: 25 mm/s

... 紫外线曝光罩的XYθ对准|在干燥的氮气环境中进行晶圆曝光的高精度定位系统 精密组件 786001:002.26 紫外线曝光罩的XYθ对准|用于在干燥的氮气环境中进行晶圆曝光的高精度定位系统 - 精密组件 用于极端条件下微观结构的微米级对准 这个三轴掩模系统是专门为紫外光刻的曝光掩模的高精度定位而开发的。这个定位系统有三个平行运动学设计的线性轴:两个X轴和一个Y轴。两个垂直轴同时产生垂直冲程(平等运动)和旋转(相反运动)。因此,它能够在紫外线辐射下以及在超干的氮气环境中对纳米范围的掩模进行高精度的线性和旋转定位。 ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
XYZ轴定位系统
XYZ轴定位系统
782300:265.26

重复精度: 3, 5 µm
运行行程: 200 mm
传送速度: 30 mm/s

... 高度稳定的非接触式光学测量。 这个XY组合有一个独立的Z-垂直单元,可以安装一个定制的显微镜、照相机或传感器。花岗岩板上带有步进电机的KT310交叉台将被检测的晶圆高精度地移动到显微镜上,并实现稳定的高分辨率成像。其带有内部电机、交叉滚子导轨和高精度滚珠丝杠的概念,在最佳利用安装空间的情况下实现了出色的精度。 对最小的细节进行高精度分析 - 是对晶圆、印刷电路板和探针卡进行光学检测的理想选择 - 可轻松适应各种定制显微镜、照相机或传感器 - 对高达200 ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
XYZ轴定位系统
XYZ轴定位系统
782498:001.26

运行行程: 200, 700 mm
传送速度: 50, 500 mm/s

... XYZ半导体检测龙门架 | XY直线电机,型材导轨 | Z滚珠丝杠,交流伺服 - 检测和微观分析 半导体的高精度自动3D检测 这个3轴定位系统在Z轴上将高分辨率的相机或传感器移到目标上。基于线性直接驱动的LA250线性轴,该系统实现了高速度和高加速度,具有高精度和非常好的可重复性。对于垂直定位,高精度的PLT165-AC线性平台带有强大的交流伺服电机,用于驱动其精密滚珠丝杠。它具有很高的有效载荷能力,即使是重型传感器。 在低维护的24/7操作中实现高产量 - ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
9轴定位系统
9轴定位系统
782300:215.26

... 从各个角度进行自动和高分辨率的成像 这个9轴定位系统使得在显微镜或高分辨率相机下从所有可能的角度观察样品成为可能,如注射喷嘴、支架、小型切割工具、套管和其他旋转对称的部件。它由KLT310与PMT160的XYZ的坚固和刚性的标准组件组成,不同类型的显微镜可以连接到它上面。轻巧、紧凑和稳定的KT180 XY偏移台用于旋转轴,上面还有一个带旋转轴和安装卡盘的旋转轴。 即使加工时间短,也能实现超精细的细节 - 是开发和设置医学、生物技术和半导体技术中高精度三维工艺的理想选择 - ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
XYZ轴定位系统
XYZ轴定位系统
782489:001.26

传送速度: 30 mm/s

... 用于多种测量任务的高精度检测系统 这个三轴定位系统是为高精度的计量应用而设计的,在Z轴上,平台将待测物移动到传感器或相机上。xy平台由可靠的KT310组成,采用直流电机设计。它的概念是内部电机、交叉滚柱导轨和高精度滚珠丝杠,在优化利用安装空间的同时实现了卓越的精度。 高度精确和一致的测量结果 - 是自动化样品检测的理想选择 - 高精度的重复性可达 0.3 µm - 测量偏差减少到3微米以下 可选择扩展。 - 各种行程可达200毫米 - 带/不带花岗岩底座 - ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
XYZ轴定位系统
XYZ轴定位系统
782330:159.26.AB

传送速度: 130, 330 mm/s

... XY-Z定位系统,用于高通量微孔筛选(洁净室)|高精度,用于制药测试、生命科学测试等。 - 实验室/分析 用于高精度筛选任务的大型传输定位系统 这种高精度的XY-Z定位系统具有大孔径,可从两侧或通过透射光进行测量。在Z方向上可以连接一个定制的显微镜、照相机或传感器。微孔板在Z轴下的KDT600-EDML XY平台上移动。最多可以放置12个孔板,在400毫米的大透射光上面的移动距离为350毫米。从下面对样品进行透射照明,确保了生物反应的完美筛选。 是生命科学和生物技术应用以及制药业药物筛选的理想选择。 ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
Z轴定位系统
Z轴定位系统
ID 219595

重复精度: 0.1, 0.5 µm
运行行程: 2 mm
传送速度: 0 mm/s

... 高分辨率、工业级和成本优化的产品 这个定位系统用于自动化共焦显微镜和照相机的应用,可以实现超过1亿次的聚焦,并产生出色的图像。特别是对于共焦光学器件,需要最小的定位步长低于一微米,并且与理想的直线运动的偏差最小。一个新的驱动概念包括一个中心作用的偏心驱动,用于100纳米的定位步长,在坚固性、性能、可靠性、集成度和成本效率方面满足所有行业的要求。 不受外部振动的影响,获得出色的高分辨率图像 - 是自动共聚焦显微镜、分析和扫描应用的理想选择 - 使用共焦传感器进行高分辨率测量,最高可达0.1微米,以及非常小的堆叠距离的焦点堆叠 - ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
多轴定位系统
多轴定位系统
782300:120.26

... XZ-Phi系统 | X直线电机,滚珠丝杠 | Z直流电机,交叉滚子 | Phi扭矩电机 带衬垫轴和旋转台的高精度测量系统 这个X-Z-Phi多轴定位系统由高精度和耐用的标准轴(PMT160-300-EDLM、MT130-50-DC、DT170-TM)组成,它们可以理想地组合成一个高精度测量装置。对于水平运动,PMT160-300-EDLM除了具有较高的定位速度外,还能实现亚微米范围内的最小步长。为了充分利用直线光栅尺的精度,它与被测距离保持一致(阿贝的比较器原理)。栅尺与转台分开,在转台前的径向上位于待测工件的高度。 ...

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Steinmeyer Mechatronik GmbH
单轴定位系统
单轴定位系统
TA4470

... 我们以高超的传感器技术和优秀的系统技术来满足您对运动控制的每一个需求。我们为您提供高度准确和可靠的定位系统,该系统由各种类型的指示器和传感器支持,并配备了环境刚性的同步变送器作为传感器。提供了一系列的产品,充分满足各种应用。它们能够直接与上层系统对接,如可编程控制器、定序器等。它们也适用于与现有系统的匹配和扩展。 ...

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