表面光学传感器

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形状光学传感器
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LineScan

光速点云 ZEISS LineScan 用于采集曲面表面的光学式探头 无论是与名义CAD数据进行对比还是创建新的CAD模型,当有必要使用点云法捕获整个表面的形状时,LineScan是不二的选择。 特点 在车身、模具和工具制作、模型构建和设计,以及需要对接触敏感或结构精细的表面进行测量时,LineScan 光学式探头是不二的选择。 高生产率和准确性 LineScan的速度高达:每秒可捕获多达250,000个点,实现高速数字化。由于测量时间短,生产力可以得到显著提高。 CALYPSO ...

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ZEISS Industrial Metrology/蔡司
形状光学传感器
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LS030101

... 光纤屏障,0.3米,头部。不锈钢10long Ø1.5 Ø6,光线出口轴向,导体。玻璃纤维+硅胶,端头。M18x1黄铜,Sn:180, -40-180°C, IP67 包括2个安装夹子 AY000009 光纤传感器 - 光纤玻璃纤维 光纤与适当的光纤放大器相结合,可作为无接触和无磨损的位置开关,也可在恶劣的环境条件下使用。它们检测物体,不受其特性(如形状、颜色、表面结构、材料)的影响。由于光纤的末端和头部尺寸很小,而且光纤很灵活,因此可以创造出非常优雅的解决方案,用于检测难以进入的地方的物体。在潜在的爆炸性区域和有电场和/或磁场的区域(高压装置、电焊设备),无需特别预防措施即可使用光纤,因为其功能不会因此受到影响。光纤有多种版本可供选择,以实现穿透式传感器或漫反射传感器的功能。 电气特性 摆动距离 O ...

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S neox

... 极端的多功能性和高性能 S neox传感器将多功能性推到了极致:我们的四合一技术为不断变化的应用要求提供了无与伦比的适应性,并在任何表面上提供最大的测量灵活性。 ...

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LS 50

... WENZEL的WM | LS 50是WENZEL的光学传感器组合中的最新成员之一。 特点 符合人体工程学的设计 操作简单 | 便于维护 | 美学设计 高灵活性 雷尼绍测针交换装置 | 独立使用触觉和视觉传感器 | 与雷尼绍交换的触觉测针兼容 高生产率 数据传输速度快 | 几乎不需要进行任何表面预处理 | 测量范围大 运行成本低 集成到WENZEL软件系列中 | 快速和可靠的备件供应 | 易于改装到现有系统中 工业计算机断层扫描 WM | LS ...

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WENZEL Metrology GmbH
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表面光学传感器
CFL

由于非常多的色度传感器呈线状排列,色度聚焦线传感器可以在三秒内获得极其快速的测量值,最多可获得一百万个测量点。色度测量原理确保了低测量偏差和对表面特性的高度独立性。应用的领域包括漫反射以及镜面和透明的工件。 • 使测量不确定度和测量范围适应不同目标的相应应用 • 由于有较大的轴向测量范围,通常没有必要根据工件的几何形状来跟踪设备轴线。 • 快速创建工件表面的光栅图像的可能性允许形成局部坐标系,以便与其他传感器进一步测量 • 也可以测量透明材料的层厚(选项)。 测量范围 0.2 ...

表面光学传感器
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AZS0 series

... -超线性特性,分辨率高达 0.06 毫米 -带集成带通滤波器的屏蔽光学元件 -先进的信号处理算法 -仪器定位标记 AZS BlueFlash 传感器是用于检测所有不透明材料的光学边缘传感器。它们可用于需要快速检测材料边缘且精度要求较高的卷材导向应用中。与超声波传感器相比,BlueFlash 使用的线性高分辨率材料边缘映射系统具有明显的优势。定位标记可快速、精确地将传感器对准参考线。它们在出厂前就已设置好,无需校准。两种标准尺寸可覆盖较大的材料带宽。BlueFlash ...

形状光学传感器
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LineScan series

无论是与名义CAD数据进行对比还是创建新的CAD模型,当要使用点云法捕获整个表面的形状时,LineScan是您的不二之选。 一览: 高速全面的自由形面检测显著提升检测效率 具有不同测量范围和精度的大量测头选择,适用于广泛的应用领域 蔡司LineScan2-8是在三坐标测量仪(CMM)领域精细的线性扫描仪,它促进出色的测量结果 蔡司CALYPSO中集成了功能强大的软件——实现标准化统一、操作便捷的用户界面 更高的生产力 该测头可实现快速完整地捕获表面结构,结合其高点密度特性,可减少70%的测量时间。这显著提高了生产力。 灵活性 用于特定应用的定制测头简化了测量策略,使操作人员轻松应对检测工作。只投资在与应用配套的测头上。 测量数据的可信度 高精度、高分辨率的图像使用户可以充分信任他们的测量结果。这减少了反复测量的过程,从而实现更少的测量时间,可以有效降低成本和提升生产率。 出色的用户友好性 用户的工作方式无需变化:评估结果与标准几何学评估一起显示在报告中。使用蔡司CALYPSO,用户将获得更加广泛的测量可能性。

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ZEISS Métrologie industrielle
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