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产品规格型号
厚度
0.15 mm
(0.006 in)
产品介绍
概要
通过与硅晶片进行阳极键合,无需使用粘结剂,可解决外部气体(out-gas)问题,适用于晶圆级封装(WLP)工艺。
主要特性
微密孔加工:最小孔径 φ0.1mm
最大玻璃尺寸:可达 φ300 mm(部分工艺仅适用于最大 φ200 mm)
提高器件晶圆的键合良率:抑制孔周围凹陷,减少崩边(可实现 ≦10 μm)
标准规格
材料:玻璃
玻璃尺寸:≦ φ300 mm (*)
最小厚度:0.15 mm
厚度公差:±0.01 mm
最小孔径:φ0.1 mm
孔形状:按要求(直孔 / 锥形 / 阶梯)
孔径公差:±0.02 mm
崩边(Chipping):≦100 μm(特殊加工可达 ≦10 μm)
金属化加工:可提供
孔周边凹陷对比
锐边型
凹陷宽度:<10 μm
凹陷深度:<0.1 μm
标准型
凹陷宽度:>400 μm
凹陷深度:>0.7 μm
崩边对比
低崩边型
(产品页面提供示意对比图)
标准型
(产品页面提供示意对比图)
应用市场 / 用途
车载
压力传感器
加速度传感器
陀螺仪
半导体
RF‑MEMS 开关
图像传感器
技术规格
材料:玻璃
玻璃尺寸:≦ φ300 mm(部分工艺限于 φ200 mm)
最小厚度:0.15 mm
厚度公差:±0.01 mm
最小孔径:φ0.1 mm
孔径公差:±0.02 mm
孔形状:直 / 锥 / 阶梯(按要求)
崩边:≦100 μm(特殊加工可达 ≦10 μm)
贯通孔断面形状:直 / 锥 / 阶梯
金属化加工:可提供
可与硅晶片进行阳极键合,适用于 WLP 工艺
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