光学干涉仪 VI-DIRECT 28 SUL
数字激光高解析度

光学干涉仪
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产品规格型号

技术参数
激光, 光学, 高解析度, 数字

产品介绍

测量站 Interferometer VI-direct 28 SUL 可以快速检测球形表面的形状或半径偏差。可选择使用 INTOMATIK-S 软件对干涉图进行评估。 - 通过 USB 3 端口与视频微型计算机直接连接 - 高分辨率数码相机(3088x2076 像素) - 曝光时间短,对振动不敏感 - 半径测量显示单元 - 一组光圈挡块 - 样品支持 XY 移位 - 用于快速预对准的查找器模式 - 易于使用 - 使用 INTOMATIK-S 进行目视评估或可选的软件支持评估 - 光源:光纤耦合非稳定氦氖激光器(λ=632.8 nm)

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PDF产品目录

展厅

该卖家将出席以下展会

Optatec

14-16 5月 2024 Frankfurt am Main (德国) 展会 3.1 - 展台 810

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    IBC

    13-16 9月 2024 Amsterdam (荷兰)

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。