Candela® 8xxx
先进的复合半导体材料表面检测
Candela® 8720 复合半导体材料表面检测系统可实现氮化镓相关材料、GaAs基板和外延的工艺控制,并且对生产功率器件,通信和RF器件以及高级LED(即将推出的microLED)生产制造中的关键缺陷具有较高的灵敏。 凭借专利光学设计和检测技术,Candela 8720能够对亚微米级别的缺陷进行检测和分类。目前其他检测方法还不能够持续稳定地识别这些缺陷,因而该系统可用于对生产线和限制良率的缺陷进行监控。
应用
工艺监控,设备监控,质量控制
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