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... 适用于大颗粒干粉样品的常规颗粒 粒度 分析 Aero M 干粉分散器支持使用 Mastersizer 3000E 激光衍射颗粒 粒度 分析仪测量大颗粒干粉样品。 其简单设计可确保轻松使用和维护，从而在常规生产或质量控制操作期间提供稳健、可重现的颗粒 粒度分布测量。 Aero M 的设计可支持测量干粉样品的颗粒 粒度和 粒度分布。 ...
... 全自动亚筛分 粒度 分析仪 通过直观触摸屏独立操作 高质量的质量流量控制器和高灵敏度传感器，可实现气压控制与监测的最高精度 快速操作：支持实时数据监控，数分钟内生成结果 Fisher 映射工具，可报告等效 Fisher 数结果 符合 ASTM 标准 B330-12、B330-15、C721-15 和 E2980-15 Micromeritics Sub-Sieve AutoSizer (SAS) ...
... 还是在受控的 实验室环境中，SediGraph 都能凭借出众的可靠性持续提供准确的结果。 采用沉降法测量 粒度分布。通过X射线吸收直接测量颗粒质量。 通过测量颗粒在重力作用下，穿过具有已知性质的液体时的沉降速率（如斯托克斯定律所述），SediGraph 可以确定粒径范围为 0.1 到 300 µm 的颗粒的等效球径。 新一代 SediGraph III Plus 将这种久经考验的技术与新技术相结合，可提供可重现且高度准确的 粒度信息，在几分钟内完成大多数 分析。 颗粒的 粒度范围以及各 粒度类别的质量分布对陶瓷粉末的烧结能力 ...
... A-22 NeXT 粒度仪 - 自动 粒度 分析简便无与伦比 A-22 NeXT 的两种型号是生产、质量控制、研发或制造过程控制中进行高效 粒度 分析的理想之选。 两种 粒度仪的设计和测量范围各不相同。 A-22 NeXT Micro 只需一个光源和一个检测器，就能稳定可靠地测量 0.5 至 1500 μm ...
Fritsch GmbH - Milling and Sizing
... 用于干法和湿法测量，是一款理想的 粒度仪，适用于所有需要精确、可重复的粒形和 粒度测量结果的应用场合。动态图像 分析光学过程可提供宽测量范围的结果，提供多种形状参数和 粒度评估可能性。根据样品数量的不同，测量时间不超过 5 分钟。结果可立即获得。 您的优势对于质量控制、研究和 实验室中 5 µm - 20 mm 粒径的不同测量任务，具有极大的灵活性，是筛分法的一种非常简便、经济的替代方法。 轻松实现悬浮液和乳浊液的湿法测量 A-28 ...
Fritsch GmbH - Milling and Sizing
... FRITSCH A-28 是一款理想的颗粒测定仪，用于快速 分析干燥、自由流动材料的颗粒形状和 粒度。通过对颗粒形状和 粒度的光学 分析，您可以准确快速地识别受损颗粒、杂质、团聚物或过大或过小颗粒，并在单个图像中轻松查看。根据样品数量的不同，测量时间不超过 5 分钟。测量结果可立即获得。因此，A-28 是便于质量控制、研究和 实验室工作的完美测量仪器，也是筛分的快速替代方案。 您的优势 - ...
Fritsch GmbH - Milling and Sizing
... FRITSCH A-28 结合相应的湿法分散装置，是测量悬浮液和乳浊液中颗粒形状和 粒度的理想选择，测量范围为 5 µm - 3 mm。 湿法分散尤其适用于在水中或其他液体中不发生反应的细颗粒、流动性差、易结块或粘性材料。 根据样品量的不同，测量时间不超过 5 分钟。测量结果可立即获得。因此，A-28 是便于质量控制、研究和 实验室工作的完美测量仪器，也是筛分的快速替代方案。 您的优势 - 超宽测量范围 5 μm - 3 mm - ...
Fritsch GmbH - Milling and Sizing