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... 采用 HighSense 技术的 S2 PUMA 系列 2 是用于元素分析的高端能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪 台式 EDXRF 仪器用于固体和液体样品、制备或散装样品，用于从碳到镧 (C — Am) 的元素分析。 样品中可检测到的元素浓度从 ppm 到 100% 不等。 S2 PUMA 系列 2 的高感技术将高功率（50 W）、长寿命 X 射线管与紧密耦合的光学元件和高感™ 探测器结合在一起。 HighSense™（适用于 Na 到 Am）和 ...
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... S2 Polar — — 用于石化工业的 EDXRF S2 Polar 是用于石化工业的能量色散 X 射线荧光 光谱仪， S2 Polar 能够满足从柴油到原油的 S 分析的所有要求。 这还包括对炼油厂中较高含硫量的连续过程控制，以及对最终产品进行符合规范的超低硫 (ULS) 分析。 S2 极地标准符合国际标准规范，如美国国际标准与标准规范。 S2 POLAR 能够同时测量多个元素，包括用于防腐蚀的 Cl 和用于防止残留积聚的 P，因此非常适合在一个仪器中满足炼油厂的分析需求。 ...
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... 轻松覆盖整个浓度范围，一次校准的线性计数率达到2 Mcps。针对重元素的HighSenseTM XE检测器甚至比传统计数器的能量分辨率高2倍，大大降低了元素间效应。 研究和学术界的多功能性 全新的紧凑型WDXRF测角仪采用HighSenseTM技术，提高了灵敏度和 光谱分辨率，为学术界和材料研究提供了分析灵活性和性能。S6 JAGUAR最多有四个样品掩模，适用于不同大小的样品，最多有四个分析器晶体和两个检测器，可以在从ppm到100%的整个浓度范围内进行快速的多元素分析。 无标准定量软件SMART-QUANT ...
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... 新型 S8 LION 同时波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪为水泥、矿物和采矿业中的过程和质量控制提供了最快的测量结果。 S8 LION 基于多通道技术，可在最短测量时间内为多达 16 个元件提供非常精确和准确的结果。 对于水泥行业，S8 LION 还可以测量原材料、中间化合物和最终产品中的游离石灰浓度。 通过这些结果，可以实现高能源成本和减少二氧化碳排放量。 SampleCareTM 通过试样上方管的设置确保最大限度的正常运行时间和生产率，以保护 ...
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... 人工智能辅助操作的先进系统 新一代波长色散 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪 >12 Mcps 采用 HighSense™ XE 探测器，线性计数率可实现高速分析和超高精度 正常运行时间 通过 SafeGuard™ 系统监控和 LabScape Cloud 提供即时支持，实现最佳生产率 高效 通过 EasyLoad™ 摄像头 AI 和 TouchControl™ 实现直观操作和安全样品处理 为了解决您的分析难题，布鲁克公司利用其数十年的经验开发了这一最新解决方案--无论您是需要最佳数据进行质量控制 ...
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... 单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap，包含所有像素点 光谱信息以及光学图像。 定量分析单点，线扫描，面扫描测试结果。配置的基本参数方法，可选的XMethod软件包，实现对镀层等样品的准确定量。 处理数据。强大的分析软件，可在面扫描结果中选择任意对象（椭圆，矩形，多边形）进行 光谱提取，线扫描数据提取，最大像素 光谱，相分析。 扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置，以满足您的分析需求。 ...
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长度: 350 mm
宽度: 600 mm
高度: 260 mm
... 系统能够对不平整样品表面图像进行清晰拍摄 0.5-4.5mm 可选准直器尺寸 附加光管支持四种不同尺寸准直器更换 革命性的超轻元素微区XRF成像 光谱仪 对比以往X射线荧光 光谱仪, Bruker最新微区XRF 能够为您更多的展现样品中的元素信息，让您对您的样品了解更多。 M4 TORNADO PLUS 具有超轻元素探测器，是首台能够测量 6 号元素（C）以上任何元素的微区 XRF 成像 光谱仪。此外，所有轻元素的检测灵敏度都显著提高。 在该仪器上，Bruker引入了最新专利AMS系统，该系统可有效增强多导毛细管的聚焦深度 ...
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... JETSTREAM 能够帮您获得那哪些信息？ 获取任意平面内元素的空间分布信息 在一次运行中采集整个大面积区域元素分布信息 将高分辨率光学图像与 光谱存储在一个" HyperMap "数据集中 从面扫描中结果提取任意形状对象 光谱、线扫描和化学相态进行进一步分析 使用无标准基本参数 （FP） 方法定量分析 光谱数据 设备可在现场进行检测，能够有效降低成本节约时间，并且能够避免因物流等因素对贵重文物样品造成损坏 ...
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... PICOFOX 是一种移动式（可现场流动测样）全反射X射线荧光 光谱仪，用于超微量元素分析。该备在使用中无需消耗气体，无需冷却介质，该分析仪不仅可用于实验室，还可用于现场分析。 同时进行多元素定量分析，包括卤化物 测试所需样品量极少 使用设备标样自动校准，无需每日校准 适用于各类样品 无基体效应 低运营成本，无需定期维护，使用中无需任何耗材以及冷却介质 与传统 EDXRF 相比，全反射X射线荧光 光谱仪具有以下优势 S2 ...
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... S4 T-STAR® 是一种多功能工具，用于分析各种样品类型，包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜，制样简单，无需消解，而ICP则需要完全溶解的液体样品。 TXRF 光谱仪 S4 T-STAR® 提供 ...
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