离心沉淀粒度分析仪 Micromeritics SediGraph

实验室自动粒径分布

X射线沉降法测定无机颗粒粒度分布 颗粒直径从 0.1 到 300 µm 大容量分散（50 mL）设计，适用于对异质材料进行代表性采样 完整的颗粒物计量——包括超出直接测量范围的颗粒物 可用的自动化功能：可以对多达 18 个样品进行无人值守测量 符合 ISO 13317-3 标准、ASTM B761 标准以及先进陶瓷委员会 C28 的规定 在全球众多实验室中，Micromerietics SediGraph 持续被用于开展粒度分析。无论是在严酷的生产环境中，还是在受控的实验室环境中，SediGraph 都能凭借出众的可靠性持续提供准确的结果。 采用沉降法测量粒度分布。通过X射线吸收直接测量颗粒质量。 通过测量颗粒在重力作用下，穿过具有已知性质的液体时的沉降速率（如斯托克斯定律所述），SediGraph 可以确定粒径范围为 0.1 到 300 µm 的颗粒的等效球径。 新一代 SediGraph III Plus 将这种久经考验的技术与新技术相结合，可提供可重现且高度准确的粒度信息，在几分钟内完成大多数分析。 颗粒的粒度范围以及各粒度类别的质量分布对陶瓷粉末的烧结能力、成形属性以及成品的孔径分布有着显著影响。颗粒尺寸分布信息有助于确定固化及粘接工艺，控制孔隙结构，确保足够的坯体强度，并生产出具有所需强度、质地、外观及密度的最终产品。