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... 徕卡 DM8000 M 提供了全新的光学设计，如理想的 宏观检查模式 或者倾斜紫外光 (OUV, 随检UV 选择) 不但提高了分辨能力，同时也增加了观察 8’’/200 毫米直径大样品 时的产量。 该机照明 基于最新的 LED 科技 ，一体化整合在显微镜机身上。 低热辐射效应和一体化内置技术确保了显微镜四周空间具有 理想化的空气环流。 LED的超长使用寿命和低能耗特性大大降低了用户 今后的使用成本.。 只要一指按键 您就可以切换放大倍率, 照明模式或相衬模式。 视野扩大四倍以上 宏观放大功能 ...
... 徕卡DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查12英寸(300毫米)硅片的产能。 最新的 LED 照明技术 一体化设计并整合在显微镜上. 低热辐射和机身内一体化技术确保了最理想的机身外空气流动状态。低能耗的节电设计大大延长了使用寿命,符合绿色环保的理念。 一键式的操控设计使用户可以轻易地完成倍率转换和相关的照明和相衬效果 超过传统观察4倍以上的效率 低倍宏观模式为您提供了比普通观察技术4倍以上的视野。 最高分辨率 全新的倾斜紫外观察模式(OUV) ...
空间分辨率: 1 µm
... MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸最大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。 这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时保持检测者的工作舒适性。在与奥林巴斯Stream图像分析软件结合使用情况下，可以简化从观察到报告生成的整体工作流。 ...
倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm
... 超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。 ...
重量: 9.5 kg
长度: 657 mm
宽度: 251 mm
... 采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机拍照；模块化设计，方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV100NDA和LV100ND 同时带有反射和透射照明的显微镜，用于工业材料和零部件的检查，以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。 多种镜检方式 反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉； 透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。 多种配件 有多种配件可供用户选择。 载物台、物镜、物镜转换器、目镜、目镜筒、数码相机、滤光片和偏光片等。 ...
Nikon Metrology
... SAM 300 自动晶片是为粘结晶片生产控制而开发的产品线。 它与洁净室 10 级兼容。 主要应用是在晶圆粘接界面上检测空隙、夹杂物和分层区域。 ...
空间分辨率: 5 µm
... 在灵活的模块基础上，以令人难以置信的价格定制您的150毫米探测站! FormFactor为其一流的150毫米探针台引入了一个新的模块概念。这将使您更容易以令人难以置信的价格配置您的个人测头解决方案，以满足当前和未来的需求。只需选择一个基站，并根据你的需要增加特定应用的启动套件。 同轴 - 直流参数测试，低至pA水平 - 可移动的压板，高度可调整到40毫米，200微米的接触/分离行程和±1微米的重复精度 - 卡盘平台，具有可调的摩擦力和平台锁，独特的Z型卡盘调整和90毫米的拉出量 - 磁性定位器的特征分辨率为1 ...
FORMFACTOR
倍率: 2,500 unit - 6,000 unit
重量: 10.8 kg
... 除级别超高*分辨率4K CMOS和支持4K的镜头外，还搭载了Advanced Optical Shadow Effect Mode功能，甚至能够清晰地观测到看不到的细小凹凸。全新操作系统，可直观操作。瞬间自动判别差异的异常识别功能、分析范围是传统平台9倍*的300 mm大型平台以及支持金相显微镜的高分辨率旋转镜头等，是一个通过各种自定义来支持各种分析业务的全新显微镜系统。*与本公司VHX 系列产品的比较 自动突显瑕疵的“搜索照明” 在照明不断实时切换的同时进行观测。 细微形状自动突显。 广泛应用于外观检测以及研究开发等各种情况。 突显真实表面状态的“Advanced ...
空间分辨率: 0.02 µm
... 产品概述
原子力显微镜（晶圆级AFM）是一款高分辨率扫描探针仪器，设计用于在晶圆尺度上表征导体、半导体和绝缘体的三维表面形貌及多功能物性，具有自动探针接近和高精度定位能力。
功能特点
- 先进的多功能测试：测量能力包括杨氏模量、粘附力、磁畴成像、表面电位、功函数等物理量。
- 适应性环境：兼容培养皿、加热台等配件；支持空气相和液相测量，并可在水下和高温环境下运行。
- 智能探针接近：采用压电扫描管实现一键智能针/探针插入。
- 样品尺寸适配：为12英寸晶圆搬运设计，向下兼容8、6、4英寸晶圆及碎片样品。
技术指标
- 噪声水平（XY）：0.2