性能测试系统 HD35

实验室便携式紧凑型

产品描述
HD35 便携式双通道光学模块测试系统是 YOEC 第三代便携测试平台，专为光纤陀螺（FOG）光学模块与光纤线圈组件设计。系统采用闭环 FOG 结构，支持 1310 nm 与 1550 nm 双波长工作，可实现高精度偏置测量、角速度输出及综合性能评估。被测光纤线圈可通过连接器或熔接直接接入设备，免去复杂校准，快速完成测试。系统集成带 Windows 11 的工业紧凑型计算机与专用测试软件，具有多路光电接口，轻量化手持机箱，适用于实验室、生产与现场环境。

主要优势

• 高精度偏置测量：1550 nm 通道可达 0.0005°/h。
• 双波长测试能力（1310 nm & 1550 nm），兼容宽范围线圈配置。
• 便携手持设计，便于运输与现场测试。
• 即插即用操作：无需复杂调试与校准，连接即可测试。
• 支持 200 m 至 5000 m 的线圈长度范围，视波长而定。
• 电子与光学设计优化，确保长期稳定性与可重复性。

应用场景

• 光纤线圈模块偏置与零偏漂移测试。
• 温度性能测试与环境适应性鉴定。
• 外加磁场干扰下的灵敏度评估。
• 振动与冲击环境下的机械可靠性验证。
• 生产质量控制与出厂检验的快速验证。
• FOG 新设计的研发性能表征与验证。

工作原理
HD35 采用闭环光纤陀螺架构对光纤线圈模块进行评估。将被测线圈接入仪器后，平台驱动光学与电子系统生成角速度输出，并测量偏置稳定性、温度灵敏度及环境性能等关键参数。双通道设计可根据线圈特性选择 1310 nm 或 1550 nm，以优化测试精度与灵活性。

典型规格（表）
参数：规格
尺寸：340 × 265 × 50 mm
重量：700 g
工作温度：-10°C 至 +60°C
电源：110–250 VAC，50 Hz
额定功耗：30 W
通道数：2（1310 nm 与 1550 nm）
测试误差（1310 nm 通道）：≤ 0.005°/h
测试误差（1550 nm 通道）：≤ 0.0005°/h
可测光纤线圈长度（1310 nm 通道）：200–1500 m
可测光纤线圈长度（1550 nm 通道）：700–5000 m
可测 Y 波导半波电压：3–4.4 V
线圈长度配置时间：≤ 10 s

技术规格

• 型号：HD35
• 偏置测量精度：优于 0.0005°/h（1550 nm 通道）
• 通道：双通道（1310 nm & 1550 nm）
• 尺寸：340 × 265 × 50 mm
• 重量：700 g
• 工作温度范围：-10°C 至 +60°C
• 电源：110–250 VAC，50 Hz
• 功耗：30 W
• 可测线圈长度范围：200–1500 m（1310 nm），700–5000 m（1550 nm）
• Y 波导半波电压：3–4.4 V
• 线圈长度配置时间：≤ 10 s