磁光克尔显微镜

用于材料分析

磁光克尔显微成像测试系统可以清晰直观地了解磁性材料和器件中磁化状态的空间分布和时间演化，适用于磁性材料和自旋电子器件的测试和产品开发。 磁光克尔显微成像系统基于自主设计的光路结构，采用奥林巴斯和索莱博的光电元件，用于磁性材料/自旋电子器件的磁畴成像和动力学研究。 多功能探针台 具有面内磁场、垂直磁场和多对直流/高频探头，是磁光成像和自旋传输测试的完美结合！ 最大垂直磁场 1.8 T，面内磁场 1.4 T，4K-873K 变温，可用于硬磁材料的成像研究。 多功能控制系统 测试信号控制 - 垂直磁场/平面磁场/电流/微波等多种信号，以 μs 级同步施加； 每个信号的波形、振幅、频率、相对延迟等参数均可轻松调节。 图像处理 - 实时减法，消除背景噪声； - 自动校正振动漂移等。 信号分析 - 实时显示电流和磁场测试信号； - 基于克尔图像分析，对样品进行局部（220 nm）或全局磁滞环扫描。