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... 由 Horiba 制造的 XPLora INV 是拉曼显微镜，它集成了独特的自动化功能和较小的占地面积。 它具有倒置显微镜的特殊采样能力。 该装置可用于各种要求苛刻的应用，包括细胞研究、疾病检测、药物-细胞相互作用的特征以及细胞间活动的药物验证。 XPlora INV 提供了集成霍里巴专利的 DuOScan 的特殊扫描功能，用于快速光谱多通道拉曼成像，以及 3D FCI（快速共聚焦成像）功能。 ...
... 内置智能的自动原子力显微镜 FX40使您能够在多种应用中获得最清晰、最明确、最高分辨率的图像，一个又一个样品。它将人工智能与机器人技术相结合，实现了自动化流程和机器学习，满足您的纳米级显微镜需求。额外的轴相机自动与激光束和光电探测器对齐。早期预警系统和故障保险，以及每一步的信息提取和存储，使像您这样的科学家和研究人员能够突破人类的极限--所有这些都无需专门的显微镜培训。 ...
Park Systems
... Park NX20是一个适用于所有研究实验室的AFM平台，处理的样品最大可达200mm。从学术应用到半导体和故障分析，NX20提供了独特的功能，如通过去耦XY扫描系统进行精确和可重复的测量，通过低噪声Z检测器进行表面粗糙度测量，真正的非接触式™模式确保了表面粗糙度精度的针尖锐度，广泛的高分辨率扫描模式和模块化设计。NX20因其数据的准确性和可重复的测量而被广泛用于半导体和硬盘行业，提高了生产力标准的分析效率。 300毫米版本--Park NX20 300毫米支持300毫米×300毫米的全机动行进范围，可以有效地检测整个300毫米的晶圆，而不需要任何繁琐的样品位移。 主要技术特点。 具有100微米x100微米扫描范围的二维柔性导向扫描仪 ...
Park Systems
空间分辨率: 0.5 µm
... NX-Wafer是唯一具有自动缺陷审查功能的晶圆厂AFM。它为缺陷成像和分析提供了一个完全自动化的AFM解决方案，可将缺陷审查的生产率提高到1000%。 独特的功能。 低噪音原子力分析器，用于精确、高产量的CMP轮廓测量 以极高的精度测量亚安格伦的表面粗糙度，并将针尖与针尖之间的差异降至最低 智能ADR软件 通过Park的Smart ADR NX-Wafer，可以提供全自动的缺陷审查和识别，通过高分辨率的三维成像，实现关键的在线流程，对缺陷类型进行分类，并找出其来源。 Smart ...
Park Systems
... 适用于 300 毫米以下的重型和大型样品的尖端扫描 AFM • 标准 AFM 系统 • 300 毫米 x 300 毫米样品级 • 适用于高达 45 kg 的样品 Nanosurf 是定制大型和重型样品系统的市场领导者。 在过去的几年里，我们的团队已经建立了一个丰富的知识库，为不同的客户开发了这些定制阶段。 利用这一丰富的知识，我们现在开发了适用于 300 毫米以下的大型样品或 45 千克以下的重型样品的标准产品。 与自定义系统相比，Alphacen 300 减少了价格和交货时间。 ...
Nanosurf
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有高水平的性能、功能和配件选择， 其测试功能强大，操作简便易行。齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求， 进行了全面革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂 移和低噪音水平。现在，用户只需要几分钟就可获得真实准 确的扫描图像。 终极性能 探针扫描式扫描器 独特的传感器设计，在闭环条件下，也能实现开环噪声级别的大样品高分辨率扫描成像，热漂移速率低于200 ...
Bruker Nano Surfaces
空间分辨率: 0.13, 0.1, 0.26 nm
... OS-AA SPM 系统以其多功能性和开放性而闻名。 它是一个实验平台，这些实验是非传统的，而且是进一步的发展，而不是单纯的检测设施。 它不仅仅是一个探测设施。 它还包括 STM、AFM、LFM、MFM、EFM 等功能，以及接触模式、攻丝和相位成像等技术。 SPM 系统具有全数字控制16位ADC/DAC 的成像设备。 SPM 系统具有基于TCP/IP协议的高速通信，适用于双 CPU 双操作系统和大型数据交换。 可以进一步扩展输入/输出信号通道。 它有一个标准的外部开放接口，用于第二个开发。 ...
空间分辨率: 0.05, 0.2 nm
... 一体化设计，结构精巧，外形美观。扫描头和样品台设计在一起，抗震性能强。精确的激光检测和探针对准装置使激光调整简单易行。适应伺服电机手动或自动驱动样品接近尖端，实现精确扫描区域定位。高精度和大范围的样品转移装置，可以扫描任何感兴趣的样品区域；不同类型的扫描器满足不同客户对精度和扫描尺寸的要求；光学观察系统用于针尖检查和样品定位；CCD观察系统用于实时观察和定位样品区域；使用伺服电机实现CCD自动对焦 电子系统设计为模块化，易于维护和开发，集成多种工作模式的控制电子，便于进一步开发。 主要特点 1.扫描头和样品台一起设计，抗震性能强 2.精确的激光检测和探针对准装置使激光调整变得简单而容易。 3.适应伺服电机手动或自动驱动样品接近头，实现精确的扫描区域定位。 4.高精度和大范围的样品转移装置，可以扫描样品的任何感兴趣的区域。 5.光学观察系统，用于检测样品尖和样品定位。 6.电子系统采用模块化设计，便于维护和进一步开发。 7.采用弹簧隔振，简单且性能良好。 ...
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