非磁性探针卡

细螺纹

Seiken的非磁性探针卡是从头开始设计的，拥有多年的经验支持。每一个细节，从材料选择和精密加工到表面处理、PCB制造和组装，都在一个完全集成的过程中得到精心管理。结果是一张探针卡，即使在最敏感的磁场环境中，也能提供稳定的高精度检测。 - 可选的插座套件进一步扩展了功能，使这些探针卡非常适合于封装设备的手动测试。 - 非磁性探针卡非常适合测试对磁场敏感的组件，如电子指南针，提供可靠的解决方案，在需要无妥协的测量精度的地方至关重要。 - 灵活的探针针脚阵列：凭借Seiken的先进设计能力，探针阵列可以灵活配置，以满足您设备的特定要求，确保最佳性能和精度。 - 精细间距能力 — 150µm间距的精密测试：支持超精细间距至150µm，非常适合微型电子元件的高精度测试。 - 完整的一站式解决方案：从设计到制造和组装，Seiken提供完全集成的生产，提供适合您测试环境的最佳非磁性探针卡。 - 可提供小批量生产：定制探针卡从单个单元开始提供，提供灵活的支持，用于原型、开发项目和专业应用。 - 手动测试的插座套件选项：通过添加可选的插座套件来增强灵活性，允许在相同的非磁性环境中进行高效的封装设备手动测试。 应用示例： - 电子指南针的精密检测 - 霍尔IC的特性评估 - MR和MI传感器的磁场影响测试 - 磁场敏感环境中的高精度测试 定制解决方案示例： - 用于磁传感器设备的非磁性探针卡（由半导体制造商使用，前端和后端半导体工艺） 特性 / 技术规格： - 非磁性结构适用于磁场敏感环境 - 支持具有灵活配置的探针针脚阵列 - 精细间距能力至150µm - 集成设计、制造和组装 - 手动测试的可选插座套件 - 可用于小批量生产（从单个单元开始） - 稳定的高精度检测