立式探针卡

强电流

我们的高级探针卡是半导体制造中晶圆级测试的必备工具。这些卡片在IC芯片安装到基板上之前进行精确测试，有助于在生产过程中及早发现缺陷并提高产品的整体质量。通过向晶圆上的每个引脚发送和接收电信号，探针卡收集重要的测试数据，确保每个芯片按预期运行。它们在半导体生产的初始阶段识别问题方面发挥着关键作用。 通过高级垂直型探针卡提高测试效率：与传统的悬臂型探针卡不同，我们的高级垂直型设计支持同时多芯片测试和全晶圆测量。这大大提高了吞吐量并减少了测试时间。 得益于精密接触技术，这些卡片还支持高频和大电流测试，具有卓越的可靠性。其用户友好的设计使维护变得简单，最大限度地减少停机时间并提高生产力。无论您是希望简化测试过程还是提高测量精度，我们都提供灵活的解决方案，以满足您的要求。 高级探针卡的结构 Seiken的高级探针卡旨在追求卓越，具有探针头和探针卡基板（PCB）。每个探针头都是在内部设计和制造的，利用高精度加工技术。这种方法保证了您可以信赖的精度和性能。 - 探针头：由工程塑料或陶瓷加工而成，形状适合您的测试需求。 - 可用材料包括： - 树脂 – 塑料：Sumika Super、Topfine和其他工程塑料。 - 陶瓷：Photoveel等。 这些材料提供出色的耐用性和稳定的探针固定，有助于创造理想的测试环境。 - 探针卡基板：提供两种PCB类型以适应您的测试环境。 - 定制PCB（用于大规模生产和性能关键测试）：专为每个客户的应用而设计，这些PCB允许最大限度的定制和精确的测试条件。 - 通用PCB：与许多主要测试仪制造商兼容，这些PCB提供灵活的设置，使用跳线和引脚块以适应广泛的测试。注意：一些通用PCB是Seiken的专有设计。 - 连接选项：根据您的测试需求量身定制。 - 定制PCB（高精度，无布线）：直接对接设计将探针头连接到PCB，消除内部布线并最大限度地减少信号损失。优势：降低大规模生产环境的长期成本。适用于具有固定设备布局的应用。 - 通用PCB（灵活且高度兼容）：设计有中央开口，此配置允许灵活的探针头安装。优势：对于不断发展的设计具有出色的多功能性。考虑因素：布线电阻略高，使其不太适合高频或低电流测试。 关键特性和优势 - 精确定位和精确测量单个芯片：为多功能性而设计，易于翻转以在切割后进行单个芯片测试。可选的导向框架和接触盖简化了芯片对准并确保精确探测。 - 易于维护的可更换探针：以最小的停机时间保持最佳性能——设计允许独立更换探针部分，无需拆卸整个装置。节省时间和维护成本。 - 定制解决方案，从单个单元到全面生产：Seiken与客户密切合作，创建适合独特测试条件和开发要求的探针卡。无论您需要一次性原型还是大规模生产支持，解决方案都能在每个阶段满足您的需求。 应用示例 - 晶圆级测试 - IC设计验证 - 调试等 特性/技术规格 - 垂直型探针卡设计，用于同时多芯片和全晶圆测试 - 支持高频和大电流测试 - 探针头由工程塑料（Sumika Super、Topfine）或陶瓷（Photoveel）制成 - 定制和通用PCB基板选项 - 直接对接和灵活的连接选项 - 可更换的探针部分，便于维护 - 可根据特定客户应用进行定制 - 与主要测试仪制造商兼容