强电流探针卡

随着汽车技术如IGBT的进步，对高电流测试的需求——通过发射极电极处理数百安培——正在迅速增长。传统的探针卡在这些极端条件下往往难以应对，即使负载分布在多个引脚上进行了优化。 Seiken的高电流探针卡通过在探针尖端采用CNT（碳纳米管）技术，显著提高了允许的电流容量，从而克服了这些障碍。此外，卡的主体采用坚固的金属结构，使电流也可以通过外壳流动，从而最大限度地减少每个引脚的负载。这种创新设计使高电流测量更加稳定和可靠。 - 高电流能力：探针采用CNT技术和金属外壳结构加固，大大增强了电流耐受性。与传统的线探针相比，较短的端子长度提供了较低的电感，有助于提高性能。 - 优越的交流特性：通过将探针卡的高度减少到传统30毫米的一半以下，显著提高了交流性能和测量稳定性。 - 完全可定制的解决方案：每个探针卡都是为与您的芯片处理器和测试仪集成而量身定制的。从单个单元到大规模生产，提供灵活的制造。 应用示例： - 功率器件（IGBT、SiC、GaN器件） - 功率半导体（高压MOSFET、二极管） 相关产品： - 高电流技术：Seiken的CNT（碳纳米管）镀层探针用于高电流应用，提供低电阻、耐热性和更高的耐用性，确保与铝电极和其他苛刻测试环境的可靠接触。 - HC-C IC插座：采用专有的HC-C（高电流立方体）技术，这些插座提供每个端子的出色电流承载能力，并提供坚如磐石的电气性能。非常适合高功率应用，如汽车和功率器件，确保在苛刻条件下进行稳定和高效的测试。 - 探针支架（定制测试夹具）：也称为引脚块，探针支架是电子元件测试中精确探测的必需品。我们的探针支架确保完美的对齐和稳定的接触——无论您是使用标准格式还是需要完全定制的设计。 技术规格/特点： - 在探针尖端采用CNT（碳纳米管）技术 - 坚固的金属结构用于通过外壳的电流流动 - 高电流耐受性（数百安培） - 由于端子长度较短，电感较低 - 减少探针卡高度以提高交流性能 - 为与芯片处理器和测试仪集成而量身定制 - 从单个单元到大规模生产的灵活制造