Kelvin探针卡

Seiken的开尔文探针卡专为四端子感应（开尔文连接）测量而设计，提供高度精确的设备电阻测试。通过独立控制电流（力电路）和电压（感应电路），开尔文测量有效消除了接触电阻的影响，精确捕捉设备的真实电阻（Rs）。 在开尔文测量中，两个端子必须接触单个电极，如焊点或焊盘。Seiken的开尔文探针卡支持从0.35mm的电极间距开始的细间距测量。通过将端子间隙缩小到仅0.1mm，即使在超小电极上也能实现稳定可靠的接触。（专利号5597108适用于此设计。） Seiken为开尔文探针所需的专用板提供全面支持。从定制夹具设计到完整的制造服务，我们提供一站式解决方案，确保您的探针卡与测试设备之间的完美配对，以实现最大精度和效率。 - 小电极的可靠接触：为当今的微型化技术而设计，确保即使是φ180μm的小凸点也能稳定接触。 - 多芯片测试的灵活引脚布局：享受完全的设计灵活性——我们的开尔文探针卡支持每芯片100到1000个电极的布局，并允许同时进行多芯片测试。所有高级探针卡在引脚排列上没有限制，只要满足间距要求即可。 - 易于维护的可更换引脚：保持最佳性能很简单；我们的开尔文探针卡允许轻松更换引脚，最大限度地减少停机时间并简化维护——就像我们的高级探针卡型号一样。 应用示例： - 半导体前端测试 相关产品： - 开尔文测量技术：我们的专利开尔文探针能够在细间距电极上进行超精确的低电阻测量。双点接触距离可达0.1mm，确保稳定的连接性、卓越的耐用性和无与伦比的精度，适用于下一代设备。 - 开尔文IC插座：我们的开尔文插座支持精确的四端子低电阻测试，即使是小于1mm的超紧凑芯片。专为尖端技术和高密度IC设计，提供无与伦比的精度，适用于您最先进的应用。 - 探针支架（定制测试夹具）：也称为引脚块，探针支架是电子元件测试中精确探测的必需品。我们的探针支架确保完美对齐和稳定接触——无论您是使用标准格式还是需要完全定制的设计。 技术规格/特点： - 四端子（开尔文）测量能力 - 消除接触电阻以实现精确的设备电阻测量 - 支持从0.35mm电极间距开始的细间距测量 - 端子间隙可缩小至0.1mm以适应超小电极 - 专利号5597108 - 灵活的引脚布局：每芯片100–1000个电极，支持多芯片测试 - 可更换引脚，便于维护 - 提供定制夹具设计和制造