单轴扫描仪 MiniTrak O-Frame

测量薄膜激光

概述
MiniTrak O-Frame 在线卷材测量扫描仪集成于智能分布式测量架构中，提供快速、准确且可靠的在线测量性能。该8英寸箱形截面框架支持近红外（NIR）、X射线、β等透测传感器，最多可安装两个质量传感器以实现组合或冗余测量，适用于受限工艺位置的安装需求。

主要功能

• 紧凑且刚性的O型框架设计，8英寸箱形截面，适合受限工艺空间安装。
• 支持最多2个质量传感器，支持组合测量或冗余配置。
• 兼容透测测量技术：近红外（NIR）、X射线、β探头。
• 为与智能分布式面材测量与控制系统集成而设计。
• 适配广泛的面材宽度，满足不同生产线规格需求。

支持的传感器 / 典型组合

• FilmPro — 近红外测厚仪（NIR）
• Series 9 — 含湿度与涂层重量测量的仪表
• GBS — 伽马测厚仪
• Photon — 电极涂层重量测量传感器

应用
适用于涂布、薄膜、转换等连续卷材工艺的在线测量场景，需通过产品本身进行测量（厚度、涂层重量、湿度、基材特性）以实现过程控制与质量保证。

规格 / 技术参数

• 型号：MiniTrak O-Frame
• 制造商：Nordson
• 框架结构：8英寸箱形截面（紧凑、高刚性）
• 传感器容量：最多支持2个质量/计量传感器
• 兼容传感器类型：近红外 (NIR)、X射线、β 探头（透测测量）
• 适用面材宽度：575 mm 至 4325 mm（22.6 in 至 170 in）
• 典型用途：涂层厚度、涂层重量、湿度测量及基材检测等在线测量