单轴扫描仪 MiniTrak S-Frame

测量薄膜薄板

概述
MiniTrak™ S-Frame 是一款面向在线测量移动面材的单面扫描框架，设计用于与 Nordson 的智能传感器系列集成。它同时支持背向散射和反射传感技术，适用于测量面材一侧的仪表，例如近红外（NIR）、X 射线、伽马背向散射和光学厚度。头部托架周围采用密封毛刷系统以防止颗粒进入，框架底面为封闭设计以防止污染物落在面材上。该框架最多支持两个扫描背向散射传感器，适用于 980 mm 至 6230 mm 的面材宽度范围。

支持的传感器

• Series 9 – Moisture & Coat Weight Gauge
• OptiMike – Optical Thickness Gauge
• GBS – Gamma Thickness Gauge
• 近红外（NIR）传感器
• X 射线传感器
• 伽马背向散射传感器

适用与兼容性

• 用于涂层重量、含水率、厚度与密度的单侧在线测量与过程控制
• 可与 Nordson 测量系统及 Series 9 家族仪表集成
• 适用于薄膜、片材、涂覆基材以及其它连续面材工艺

主要特点

• 坚固的单面扫描框架，底面封闭以防污染
• 头部托架周围的密封毛刷系统可排除颗粒进入
• 支持背向散射与反射传感器家族
• 最多支持两台扫描背向散射传感器
• 可配置适配 980 mm 至 6230 mm 的面材宽度

特性 / 技术规格

• 产品型号：MiniTrak™ S-Frame
• 类型：用于面材测量的单面扫描框架
• 传感器兼容性：NIR、光学厚度、X 射线、伽马背向散射；Series 9 家族
• 最大扫描背向散射传感器数量：最多 2 台
• 结构防护：头部托架周围密封毛刷系统；框架底面封闭结构
• 支持面材宽度：980 mm – 6230 mm（38.6 in – 245 in）