厚度测量仪器 FilmPro

表面重量红外线用于薄膜

概述
FilmPro 通过红外透射方式测量薄膜、薄片及涂层产品的厚度与基重。FilmPro 采用专利红外光学系统和精密组件，旨在在变化的生产环境中提供可重复、高分辨率的过程控制测量。

特点 & 优点

• 红外透射测量，使用非电离辐射（非核技术）。
• 光学设计经优化以实现精确的厚度与基重测量。
• 可选模块化 FSO（条纹抑制光学）以降低薄且透明薄膜的光学干涉。
• 测量范围覆盖从非常薄的薄膜到厚板及薄膜基材上的涂层。
• 最多支持 6 个组分的多层区分（同时分离多层）。
• 适用于工业产线的校准和维护程序。

应用

• 铸造薄膜生产
• 挤出薄片测量
• 双轴取向薄膜（BOPP/BOPA）
• 吹塑薄膜生产线
• 多层结构和阻隔层薄膜
• 薄膜基材上的有机与水性涂层
• 空隙化/珠光、微孔、电池隔膜及透气薄膜

非核技术
FilmPro 使用红外透射而非放射源，从而免除了辐射许可、专用屏蔽或联锁安全门的需求，简化了安装、维护及合规工作。

改进的光学引擎（FSO）
薄而透明的薄膜会产生反射光和光学干涉，影响透射测量精度。可选的 FSO 模块和改良光学引擎可降低对光学干涉、厚度变化及扫描器跳动的敏感性，从而提升在难测薄膜应用中的测量稳定性。

多功能性
FilmPro 可测量透明、着色、空隙化/珠光或带状着色产品，能够对微孔、透气或空隙化薄膜进行真实厚度测量，并可通过基重与厚度数据推算密度。支持同时测量阻隔层（如尼龙、EVOH、PVDC）与聚烯烃层的复合结构。

系统配置
FilmPro 可与 Nordson 扫描框架集成，并兼容典型扫描器，如 AccuTrak O‑Frame、MiniTrak O‑Frame、MiniTrak S‑Frame 及 SlimTrak II，以适配不同网幅和工艺环境。

特性 / 技术规格

• 产品：FilmPro 红外透射厚度与基重测量仪
• 测量原理：红外透射（非电离辐射）
• 测量参数：厚度与基重；可推算密度
• 材料范围：薄膜至厚板；透明、着色、空隙化/珠光、微孔、透气及阻隔膜
• 多层区分：最多 6 个组件
• 可选项：FSO（条纹抑制光学）用于薄、透明薄膜测量
• 环境补偿：针对照明波动、温湿度变化、气压漂移、网材颤动和扫描器跳动进行设计
• 校准：适用于现场实施的简便校准方法
• 典型兼容扫描器：AccuTrak O‑Frame、MiniTrak O‑Frame、MiniTrak S‑Frame、SlimTrak II
• 应用场景：铸造薄膜、挤出薄片、双轴取向薄膜、吹膜、阻隔层、涂层、电池隔膜等