瞬态热电阻测量设备是用于测量IGBT/MOS-FET/Diod/BJT等的瞬态热电阻的仪器。
BJT (Bipolar Junction Transistor)瞬态热电阻测量设备
本设备向晶体管的基极•发射极通入微电流,测量此时基极与发射极之间的电压。随后在集电极与发射极之间施加电源,提升结点温度。切断电源后再次向晶体管的基极•发射极通入微电流,测量基极与发射极之间的电压,计算出差值。
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)瞬态热电阻测量仪
与BJT瞬态热电阻测量仪在同一时间计算栅极与发射极之间电压差值的测量仪器。
P-MOS FET瞬态热电阻测量仪
与BJT瞬态热电阻测量仪在同一时间计算栅极与源极之间电压差值的测量仪器。
能够测量二极管的ΔVF