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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
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产品介绍
本设备令IGBT/IPM (Intelligent power transistor) /DIODE消耗规定的电量,并在规定时间内间歇式供电,籍此评估样品的可靠性。 同时也可测量热阻。相关数据存放于HOST PC中。 亦兼备IPM、DIODE的测试。
展厅
该卖家将出席以下展会
The Advanced Materials Show
15-16 5月 2024
Birmingham (英国)
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