色度白光光学传感器 HP-OW

用于坐标测量仪

灵活的白光扫描适用于多种表面光洁度 HP-OW传感器使用色度白光光谱学，在各种应用中对不同的表面处理进行高度精确的测量。 该传感器的测量范围为数毫米，同时实现了纳米级的分辨率。结合高达±30°的大接受角，它提供了非常多的测量可能性，使其非常适合于测量从小特征到大表面的任何东西。 HP-OW探头有三种变化，使其能够适应不同的测量范围、工作距离和其他计量要求。当与HR-R传感器架结合使用时，检测周期会大大缩短。