3D扫描系统 HP-O

用于坐标测量仪激光干涉测量

HP-O传感器解决方案是一种用于坐标测量机（CMM）的扫描技术，基于频率调制的干涉式光学测距。 非接触式测量达到一个新的高度。先进的HP-O光学传感器系列为坐标测量机（CMM）的光学测量设定了新的标准，为客户提供了前所未有的好处。在众多的测量系统和传感器技术中，市场上没有其他的解决方案能够结合HP-O光学传感器解决方案的精度、测量灵活性和吞吐量。 特点和优点 结合了市场上最好的产品 有些传感器是快速的，有些提供可及性，有些则是灵活的。HP-O结合了所有这些优点，具有高速、良好的可及性和巨大的精度。 灵活和可调整的解决方案 有多种HP-O传感器，每一种都是为满足特定要求而开发的。无论应用的要求有多高，只要能用光学方法测量，就有完美的HP-O光学传感器解决方案可以做到。 高速扫描 在干涉式激光系统的帮助下，每秒可捕获一千点。这导致了前所未有的光学扫描时间。