激光衍射纳米粒度分析仪 A-22 NeXT
静态光散射质量控制纳米技术

激光衍射纳米粒度分析仪 - A-22 NeXT - Fritsch GmbH - Milling and Sizing - 静态光散射 / 质量控制 / 纳米技术
激光衍射纳米粒度分析仪 - A-22 NeXT - Fritsch GmbH - Milling and Sizing - 静态光散射 / 质量控制 / 纳米技术
激光衍射纳米粒度分析仪 - A-22 NeXT - Fritsch GmbH - Milling and Sizing - 静态光散射 / 质量控制 / 纳米技术 - 图像 - 2
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产品规格型号

所用技术
静态光散射, 激光衍射
应用
实验室, 用于研究, 质量控制, 纳米技术
其他特性
粒径分布, 台式

产品介绍

最小样品量的湿法测量

以最小样品体积实现高效分析
对珍贵或仅有限可获得样品的分析在粒径测量中提出了特殊挑战。
全新的 A-22 NeXT 比色皿 能够在仅使用极少分散液的情况下对极少量的悬浮液或乳液样品进行可靠的粒径分析。因此它非常适用于材料珍贵或需要处理复杂且成本高昂分散介质的应用场景。
由于其开放式的最小体积液体系统该比色皿仅需几毫克或几毫升样品材料以及仅7至8.5 ml的分散体积即可进行测量。
结果在整个测量范围内均具有高度可重复性0.5–250 µm使用 Particle Analyser A-22 NeXT Micro/ 0.01–250 µm使用 Particle Analyser A-22 NeXT Nano。

产品概述
软件控制的磁力搅拌系统确保均匀混合并保证稳定且可重复的分散。配备可更换的涂层BK‑7玻璃窗的316L不锈钢样品池具有出色的耐化学性和更长的使用寿命。完全可拆卸的设计使清洗快捷、彻底是日常实验室操作中的明显优势。

操作与使用
样品可通过一次性或定量移液管方便地加入。可调式定量移液管可实现高精度、可重复的样品加样。集成触控显示屏在测量过程中直接显示相关参数。即插即用功能与自动测量池识别以及用于大批量测量的可选额外样品池共同构成高效流程和稳定测量质量的完整解决方案。

主要优点
  • 可分析极少量样品体积
  • 适用于珍贵、稀有或高成本的样品材料
  • 适用于问题性或昂贵的分散介质
  • 所需分散液量极少仅7–8.5 ml
  • 磁力搅拌产生均匀混合测量可靠性高
  • 优异的耐化学性
  • 316L不锈钢样品池带可更换BK‑7玻璃窗
  • 完全拆解设计便于快速、彻底清洗
  • 样品加样精确且可重复
  • 通过一次性或定量移液管便捷供样
  • 集成触控显示屏可直接监控过程
  • 即插即用具有自动测量池识别功能
  • 使用额外样品池可提高系列测量效率
  • 紧凑设计配有实用配件盒


特性 / 技术参数
湿态分散类型开放式极小体积液体系统
分散体积7–8.5 ml
测量范围取决于样品0.5–250 µmMicro/ 0.01–250 µmNano
搅拌系统磁力搅拌软件控制
样品回路材料316L不锈钢、PTFE、FFKM、FEP、BK‑7玻璃
样品类型乳液和悬浮液
样品量取决于材料与粒径为数 mg/ml
净重2.1 kg
尺寸宽 x 深 x 高6.3 x 30.2 x 22.8 cm
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。