自动粒度分析仪

... Morphologi 4 是一个全自动静态图像分析系统，可测量干粉颗粒，混悬液和滤膜上颗粒的粒径和形貌。它旨在满足多学科研发实验室的多样化需求，是昂贵且耗时的手动显微镜的理想替代工具。由于完全自动化运行且数据分析简单，与手动方法相比，节约大量的时间。仅需简单标准化操作程序 (SOP) 的驱动操作，即可执行可靠的可重复测量。谨慎控制并审视所有关键因素，从分散状况、样品聚焦和光源一直到数据分析和报告，提供可靠的数据结果。 概述 颗粒粒度范围广泛，从 0.5 微米到 1300 微米以上，可对各种样品进行粒度测量 20 ...

... X射线沉降法测定无机颗粒粒度分布 颗粒直径从 0.1 到 300 µm 大容量分散（50 mL）设计，适用于对异质材料进行代表性采样 完整的颗粒物计量——包括超出直接测量范围的颗粒物 可用的自动化功能：可以对多达 18 个样品进行无人值守测量 符合 ISO 13317-3 标准、ASTM B761 标准以及先进陶瓷委员会 C28 的规定 在全球众多实验室中，Micromerietics SediGraph 持续被用于开展粒度分析。无论是在严酷的生产环境中，还是在受控的实验室环境中，SediGraph ...

... BeVision M1 是一款先进的图像分析仪，是表面检测和清洁度分析的理想之选。它配有金相显微镜、自动扫描平台、高分辨率 CMOS 摄像头和强大的分析软件，能够扫描滤光片或薄膜的表面，并根据尺寸和形状生成全视图图像。 功能和优点 测量范围： 0.3 - 10,000 微米 34 种不同的颗粒尺寸和形状参数 结果符合 ISO 9276-6 标准 用于快速颗粒测量的自动扫描模式 强大的全景分析功能，用于清洁度检测 扫描过程中智能自动聚焦，实现颗粒清晰度检测 位置精度高的自动样品台 针对不同评估选项的定制报告 ...

... A-22 NeXT 粒度仪 - 自动粒度分析简便无与伦比 A-22 NeXT 的两种型号是生产、质量控制、研发或制造过程控制中进行高效粒度分析的理想之选。 两种粒度仪的设计和测量范围各不相同。 A-22 NeXT Micro 只需一个光源和一个检测器，就能稳定可靠地测量 0.5 至 1500 μm 的范围。 A-22 NeXT Nano 通过智能布置额外的检测器系统，扩大了较低的测量值。这样就可以记录更大的散射角，最小可达 0.01 μm。同时，测量上限也提高到了 3800 μm。 符合您要求的型号具有所有决定性的优势：操作和清洁特别方便、分析时间短、结果重复性可靠，并可记录湿法分散过程中的温度和 ...

... 自动粒度分析：无与伦比的简便性和经济性 经过全面改良的 A-22 NeXT Micro 测量范围为 0.5 - 1500 μm，完全适用于所有典型的测量任务。智能测量设计使 A-22 NeXT 特别紧凑，节省空间。大多数测量的测量时间不超过一分钟，包括可靠的无残留清洗。 A-22 NeXT 具备所有决定性的优势：操作和清洁特别简单、分析时间短、结果重复性可靠，并可记录湿法分散过程中的温度和 pH 值等附加参数。 典型应用领域 A-22 NeXT Micro 是高效粒度分析的理想之选，可用于生产和质量控制、研发或生产过程控制。 可用模块 模块 ...

... FRITSCH A-28 是一款理想的颗粒测定仪，用于快速分析干燥、自由流动材料的颗粒形状和粒度。通过对颗粒形状和粒度的光学分析，您可以准确快速地识别受损颗粒、杂质、团聚物或过大或过小颗粒，并在单个图像中轻松查看。根据样品数量的不同，测量时间不超过 5 分钟。测量结果可立即获得。因此，A-28 是便于质量控制、研究和实验室工作的完美测量仪器，也是筛分的快速替代方案。 您的优势 - 20 μm - 20 mm 的超宽测量范围，可单独调节 - 3 个远心镜头可实现最高的形状精度 - 每秒最多可生成 ...

... 選配的現場驗證工具可在不中斷運作的情況下進行現場性能檢查。 li>< li> 高精度雷射技術 li>< li>配備單色雷射可將顆粒物成分的影響降至最低確保結果的一致性與可靠性。 li>< li> 維護需求低使用壽命長 li>< li>無需耗材。耐用型雷射器使用壽命超過 ...

... 通过 QAL1 认证和美国环保局批准的 PM 监测器，用于测量环境空气中的颗粒物浓度。 19 英寸机架式 PM10 和 PM 2.5 光学微粒分析仪，配有采样探头、气象传感器和附件；客户可自行配置（固件等）。 - RS-232（Gesytec） - 可远程访问的全自动监测系统 - 保护光学元件的吹扫空气回路 - 对所有光学和气动元件进行自检，以达到高质量标准 - 在光学单元中分析总入口流量 - 多功能数据采集和通信（GSM 数据记录器） 优点 适用于 PM 10 和 PM2.5 监测，符合空气质量监测标准 - ...

... Winner901 纳米粒度电位分析仪是 Winner Particle 推出的一款新型高端动态光散射粒度分析仪，具有 zeta 电位和纳米粒度双重测试功能。 Winner901 采用电泳光散射技术测量 zeta 电位并获得等电点。与国内外其他同类仪器相比，具有显著的优势，可与激光粒度分布分析仪配套用于各种实验。 (1) 测试原理 利用电泳光散射和光子相关光谱原理，根据颗粒在液体中的电泳迁移速度来测定颗粒 Zeta 电位的大小。颗粒电泳运动的种群速度以及激光照射这些颗粒所引起的散射光的多普勒位移量各不相同。光子相关光谱法可根据频移分析粒子 ...

... 可选。 li>
规格 / 技术参数

< li>型号：Winner2309A li>< li>原理：Mie 与 Fraunhofer 散射 li>< li>测量范围：湿法 0.01–3500 μm；干法 0.1–3000 μm li>< li>测试速度：最快

... 应用领域

< li>固体粉体、悬浮液与乳液 li>< li>化工 li>< li>磁性材料 li>< li>医药/制药 li>< li>水泥与建材 li>< li>涂料与颜料 li>< li>食品 li>< li>农药 li>< li>核工业 li>< li>电子与电池材料 li>< li>纸业 li>< li>冶金与陶瓷 li>< li>化妆品 li>< li>研磨材料 li>< li>金属及非金属粉体（如碳酸钙、滑石、白陶土、铝、稀土） li>< li>催化剂、发泡剂、耐火材料、填料