粗糙度测量系统 MicroProf® 200

非破坏性高解析度

FRT MicroProf® 200是一种高性能的测量设备，用于对几乎所有的表面和薄膜进行无接触和非破坏性的表征。这种表面测量工具基于我们成熟的SurfaceSens技术，仅在一个系统内就能完成众多的测量任务。高分辨率的CWL传感器可以轻松可靠地测量许多参数，例如地形、粗糙度和轮廓。通过各种附加的传感器，也可以使MicroProf 200单独适应您的测量任务。使用TTV模块从两边进行检测，或使用模块进行自动样品处理（MHU），MicroProf 200也可以在任何时候轻松改装，以满足您新的测量要求。凭借这些能力，该工具可以满足最高的自动化要求。