机械轮廓测量仪 NS200-D

直接接触用于粗糙度测量用于生产线

Stylus Nano Profiler NS200 是一种超精密接触式测量仪器，用于测量表面粗糙度和微观轮廓，如微纳阶梯高度、薄膜厚度等。NS200 采用了分辨率达亚埃级的位移传感器、超低噪声信号采集、超精细运动控制和校准算法技术，性能卓越。其接触力极小，对测量表面反射特性、材料类型和材料硬度没有特殊要求，因此广泛应用于半导体和化合物半导体、高亮度 LED、太阳能、MEMS 微机电系统、触摸屏、汽车和医疗设备等行业的微观表面测量。 应用领域 半导体-大型基板-玻璃基板和柔性组件上的显示薄膜 半导体 沉积薄膜的阶梯高度 薄膜电阻的阶梯高度 蚀刻速率测量 化学机械抛光（腐蚀、点蚀、弯曲） 大型基底 PCB 突出、台阶高度 窗口涂层 晶片掩膜 晶片卡盘涂层 抛光板 玻璃基板和显示屏 AMOLED 液晶屏开发过程中的台阶高度测量 触摸屏薄膜厚度测量 太阳能涂层薄膜测量 柔性组件上的薄膜 有机光电探测器 印在薄膜和玻璃上的有机薄膜 触摸屏铜迹