行扫描显微镜物镜 LS12 series用于检测工业用途冶金应用
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
产品规格型号
- 类型
- 行扫描
- 专业应用类型
- 用于检测, 工业用途, 冶金应用, 半导体电路检测, 用于检查物品
- 其他特性
- 超低失真
- 焦距
116 mm
(4.57 in)- 图像圈
62 mm
(2.4 in)
产品介绍
适用于 8k/12k 分辨率的相机
标准放大倍率覆盖 0.18X-1.29X 区域
大通光量设计可达 F4.5
超低光学畸变
应用展示
工业
高度
检测金属的刻印
瑕疵 / 污点
检测钢板上的瑕疵污点
液晶、半导体、其他
计数
SD 卡数量计算
几何测量
检测 IC 导线弯曲
