行扫描显微镜物镜 LS16-P series用于检测用于识别高解析度
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产品规格型号
- 类型
- 行扫描
- 专业应用类型
- 用于检测, 用于识别
- 其他特性
- 高解析度, 高对比度, 超低失真, 可供同轴设计
- 焦距
116 mm
(4.57 in)
产品介绍
专为同轴照明光源系统设计
消除了使用分光凌镜引起的分辨率下降
达到高分辨率，高对比度的检测要求
16K/5µ 并兼容 16K/3.5µ 以及 12K/5µ 的线扫相机
附带 30*80mm 分光凌镜
超小的光学畸变小于 0.001%，小于 1Piexl
大通光量设计可达 F3.8
应用展示
工业
瑕疵 / 污点
检测钢板上的瑕疵污点
电子零件
有无 / 辨别
检测微小芯片的个数 & 刻印不良
瑕疵 / 污点
检测 相机缺陷
电子设备
有无 / 辨别
检测电机线的捆扎不良和引线断裂
