{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
焦距: 40, 42 mm
... 瑞淀光学系统的5X/10X 显微镜头可对极小的元件和显示特性（如单个 LED、显示像素和子像素）进行高分辨率成像。该镜头提供5倍或10倍的放大倍率，可直接安装于ProMetric®成像色度计或亮度计上，多种分辨率可供选择，以满足特定应用需求。显微镜头与瑞淀 ProMetric或TrueTest™软件搭配使用，可为控制显示器和其他设备的视觉质量提供紧凑、高效的光学测量解决方案。 评估单个显示像素 随着显示器分辨率和像素密度的提高，测量更小发光元件的需求越来越多，以确保光度输出、色彩和其他质量的准确性。对于 ...
Radiant Vision Systems
焦距: 3.3 mm
... XRE镜头采用独特的光学设计，专为测量头戴式虚拟现实（VR）、混合现实（MR）和增强现实（AR）设备中内置的近眼显示器而设计。此镜头（正在申请专利中）设计模拟人眼的大小、位置和视场，可从用户观看的角度测量显示器，此外还具有多种其他优点，包括电子对焦控制、折叠和非折叠两种配置选项以及双目测量系统。 - 复制人眼在头戴设备内的位置 - 电子对焦功能，通过软件控制 - 折叠式（“潜望镜”）或非折叠式配置选项 - 视场高达 ±35° （合计70°） 从头戴式设备中的人眼观看位置评估XR显示器 XRE镜头采用将虚拟光圈置于镜头前面的设计，这使测量系统的入射光瞳能够定位于用户眼睛在头戴式设备中观看时的相同位置。在这个近眼位置上，所连接的成像系统可以从用户眼睛观看的角度采集到70°范围的显示器视场（FOV），不会被头戴式硬件遮挡，从而全面测量用户可见的显示器的所有方面，以确保显示器提供预期的用户感知体验。 由于XRE镜头解决方案采用无硬件的虚拟光圈设计，因此用户无需担忧机械限制影响测量系统在头戴式设备中定位入射光瞳。这使该解决方案能够灵活模拟人眼瞳孔大小，并确保适当的出瞳距离。 电子对焦功能：即时在多个焦点平面上调整焦距 扩展现实（XR）光学设计可能包含多个焦点平面或可变焦平面，以创建更逼真的近处和远处物体视图。为了可靠地评估这些元素，测量系统必须能够在多种距离下对焦。 传统型手动对焦镜头会因此增加测量设置时间，并引入错误风险。在测量过程中，焦点设置可能不精确或移位。对于延伸型对焦镜头，镜头的镜筒长度会在对焦时发生变化，导致测量系统的入射光瞳从眼睛位置移动，这就需要重新定位设备，以进行后续测量。 XRE镜头的电子对焦功能消除了这些问题，从而提供最高测量效率。用户可以在软件中设置精确的焦距，以使镜头在特定的虚拟距离（0.5米到无限远）下即时对焦。由于XRE镜头采用的是内对焦，因此在调整焦点时，镜头主体长度不会改变。这意味着无需人工干预或重新定位即可调整XRE镜头系统，从而可通过软件控制焦点设置实现全自动化检测。电子对焦功能还支持自动化离焦MTF分析，可迭代设置焦点，直至在测量图像中找到最佳焦点，并在数秒钟内完成分析。 ...
Radiant Vision Systems
焦距: 248 nm
... Navitar 开发了 NanoVue 248nm 4X 深紫外变焦镜头，以满足进一步扩大光学检测分辨率极限的日益增长的需求。NanoVue 光学系统在深紫外光（DUV）下工作，能够检测和表征产量关键缺陷，同时有效地将传统可见光显微镜的分辨率极限提高一倍。 - 检测灵敏度为 90 纳米。 - 与 100X 物镜配合使用时，变焦范围为 75X - 300X。 - 使用 2/3" 格式传感器和 100 倍物镜时，视场角为 0.15 至 0.037 毫米。 - 使用深紫外物镜可进行小于 0.1 um ...
焦距: 12 mm - 100 mm
... 与可见光和其他热波段相比，短波红外 (SWIR) 波段具有独特的成像优势。 它在用于电子板检测、材料/食品分拣、太阳能电池检测、质量检测和军事应用的工业机器视觉领域正在悄悄地赢得越来越多的一席之地。 SWIR 镜头用于其他检测器或相机不够灵敏以进行有限细节识别的情况。 短波红外线 (SWIR) 光是电磁波谱的第二个波长范围，通常在 0.9μm 至 2.5μm（900nm 至 2500nm）波长范围内，因此人眼不可见。 然而，SWIR 光以与可见光波长相似的方式与物体相互作用，因为光子被物体本身反射。 ...
Wavelength Opto-Electronic(Nanjing)Co.,Ltd
焦距: 4.8 mm - 19 mm
长波红外 (LWIR) 镜头通常是非制冷的，因此灵敏度较低。 它允许用户看穿灰尘或烟雾，这使得它们在某些环境和应用中特别有价值。 镜头的视场主要取决于焦距和探测器尺寸。
Wavelength Opto-Electronic(Nanjing)Co.,Ltd
焦距: 10 mm - 300 mm
红外变焦镜头主要用于比较宽阔的户外场景，目的是增加焦距以获得远距离检测。 由于在操作过程中可以改变焦距，可以放大观察场景的关键部分，从而提供更好的监控系统。 随着安防行业和户外基础设施的不断发展和完善，变焦镜头正在应用于高速公路、铁路桥梁、海防等诸多行业和领域。
Wavelength Opto-Electronic(Nanjing)Co.,Ltd
... - 用于Zoom HD数码显微镜的0.5倍辅助镜头 - 提供170毫米的工作距离 - 有效变焦倍率降低到0.35x-2.5x - 可穿入ZoomHD的底部。 不需要任何工具。 - 运输重量：1磅 ...
焦距: 4 mm - 75 mm
... 500 万像素，适用于 200 万，300 万，500 万相机 固定光圈，手动可调光圈可选 TV 畸变小于 0.1% 体积小，超紧凑型设计 高对比度工业 FA 镜头 应用展示 有无 / 辨别 辨别安全带金具的品种 容器 瑕疵 / 污点 检测瓶盖的外观 电子设备 有无 / 辨别 检测电机线的捆扎不良和引线断裂 食品 识别 纸包装的条形码读取 ...
Chiopt
焦距: 6 mm - 50 mm
... 超高成像质量 适用于像元 1.85um 相机，最高可达 1200 万像素 体积小，超紧凑型设计 应用展示 电子零件 瑕疵 / 污点 检测 相机缺陷 液晶、半导体、其他 几何测量 检测 IC 导线弯曲 电子设备 有无 / 辨别 检测电机线的捆扎不良和引线断裂 汽车 有无 / 辨别 辨别安全带金具的品种 ...
Chiopt
焦距: 8 mm - 50 mm
... 500 万像素，适用于 200 万 ,300 万，500 万相机 高相对照度，大通光孔径 对焦范围从 0.1m 到无穷远 F/NO 1.4-16 超大光圈，一致性好 高对比度画像 应用展示 容器 有无 / 辨别 检测是否有不同品种的瓶盖混入 汽车 瑕疵 / 污点 检测活塞的切屑附着 工业 高度 检测金属的刻印 位置 / 倾斜 金属模内的工作安装位置确认 ...
Chiopt
焦距: 8 mm - 50 mm
... 超高成像质量 适用于像元 2.4μ 相机，最高可达 1000 万像素 高相对照度，大通光孔径 聚焦范围从 0.1M 到无穷远 体积小，超紧凑型设计 应用展示 电子零件 有无 / 辨别 检测载带内有无 IC 电子设备 瑕疵 / 污点 检测电池外罐的外观 电子零件 位置 / 倾斜 检测电容器的导线不良 液晶、半导体、其他 位置 / 倾斜 玻璃电路板的定位 ...
Chiopt
焦距: 6 mm - 50 mm
... 超高成像质量 支持 2000 万像素面阵相机 高相对照度 大通光孔径 畸变＜ 0.1% 聚焦范围从 0.1m 到无穷远 兼容 1’’、2/3” 芯片 应用展示 电子零件 有无 / 辨别 检测微小芯片的个数 & 刻印不良 瑕疵 / 污点 检测 相机缺陷 液晶、半导体、其他 几何测量 检测 IC 导线弯曲 电子零件 连接器 连接器针脚的平整度检测 ...
Chiopt
焦距: 12 mm - 50 mm
... 支持 1.4” 芯片，兼容 4/3”、1.1” 芯片 适用于 2.3um 像元相机，像素可达 4500 万 匹配 SONY 高像素芯片 IMX492 针对大尺寸芯片进行光学结构优化，可搭配标准 C-Mount 在任何工作距离都能保持优异的性能 应用展示 工业 瑕疵 / 污点 检测钢板上的瑕疵污点 电子零件 连接器 连接器针脚的平整度 检测 瑕疵 / 污点 LED 外观检测 电子设备 瑕疵 / 污点 检测电池外罐的外观 ...
Chiopt
焦距: 40 mm - 100 mm
... 专为 8k7μ 线扫描相机而设计 标准焦段及倍率可供选择 倍率覆盖 0.02x-0.4x V-Mount，灵活适配不同接口相机 适用于锂电等大尺寸检测 应用展示 工业 高度 检测金属的刻印 电子零件 瑕疵 / 污点 LED 外观检测 有无 / 辨别 辨别电池组的颜色 工业 瑕疵 / 污点 检查极片涂布上的瑕疵 / 污点 ...
Chiopt
焦距: 90 mm - 116 mm
图像圈: 66 mm
... 专为 16K3.5μ 超高精细线扫描相机而开发 为满足 3.5µ 的解像力，镜头实际分辨率 可达到 160lp/mm 光学畸变小于 1 pixel 大通光量设计可达 Fno 3.8 应用展示 工业 瑕疵 / 污点 检测钢板上的瑕疵污点 电子零件 有无 / 辨别 检测微小芯片的个数 & 刻印不良 瑕疵 / 污点 检测 相机缺陷 电子设备 有无 / 辨别 检测电机线的捆扎不良和引线断裂 ...
Chiopt
焦距: 116 mm
... 专为同轴照明光源系统设计 消除了使用分光凌镜引起的分辨率下降 达到高分辨率，高对比度的检测要求 16K/5µ 并兼容 16K/3.5µ 以及 12K/5µ 的线扫相机 附带 30*80mm 分光凌镜 超小的光学畸变小于 0.001%，小于 1Piexl 大通光量设计可达 F3.8 应用展示 工业 瑕疵 / 污点 检测钢板上的瑕疵污点 电子零件 有无 / 辨别 检测微小芯片的个数 & 刻印不良 瑕疵 / 污点 检测 相机缺陷 电子设备 有无 / 辨别 检测电机线的捆扎不良和引线断裂 ...
Chiopt
焦距: 90, 55, 50 mm
... 1.5 亿超高清像素 大靶面工业镜头 荣获 “机器视觉产业联盟金奖’ 支持 0.01X-0.5X 倍率范围 专为面板行业而生，影像从未如此清晰 应用展示 OLED 检测 手表屏检测 电视大屏检测 3C 手机点亮检测测 行业首款 1.5 亿像素镜头 全视场均匀成像，同时满足高精度像元（3.76um）的需求 MS5515A 支持 0.01X-0.5X 倍率范围变化， 超大倍率范围能满足更多不同的视野要求 MS5515A 比传统方案共轭距减少一半 适用于 ...
Chiopt