冶金应用显微镜物镜

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UV紫外线显微镜物镜
UV紫外线显微镜物镜
JENar® series

焦距: 53 mm - 420 mm
传动装置: 355 nm - 1,080 nm

... F-Theta JENar®镜片适合用于微材料加工,特别是用于微结构或对不同材料进行标记和标注。 JENar®系列用于紫外线、可见光或红外线范围内的激光波长,但它们也可用于355至1080纳米的波长。标准镜片是用保护玻璃生产的,非常耐用。 这些透镜可以使用现有的STEP文件快速而容易地集成到任何系统中。每个透镜都要经过标准化的特定应用测试,以确保系列化生产过程中光学特性的一致性。这使得更换镜片很容易,客户也能从产品生命周期的延长中受益。 ...

焦距固定显微镜物镜
焦距固定显微镜物镜
FA 02D Series

焦距: 8 mm - 50 mm

500 万像素,适用于 200 万 ,300 万,500 万相机 高相对照度,大通光孔径 对焦范围从 0.1m 到无穷远 F/NO 1.4-16 超大光圈,一致性好 高对比度画像 应用展示 容器 有无 / 辨别 检测是否有不同品种的瓶盖混入 汽车 瑕疵 / 污点 检测活塞的切屑附着 工业 高度 检测金属的刻印 位置 / 倾斜 金属模内的工作安装位置确认

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行扫描显微镜物镜
行扫描显微镜物镜
LS series

焦距: 20 mm - 40 mm

专为小型线扫描相机而设计 标准焦段及倍率可供选择 倍率覆盖 0.02x-0.33x V-Mount,灵活适配不同接口相机 适用于印刷包装检测 应用展示 工业 高度 检测金属的刻印 电子零件 瑕疵 / 污点 LED 外观检测 有无 / 辨别 辨别电池组的颜色 工业 瑕疵 / 污点 检查极片涂布上的瑕疵 / 污点

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行扫描显微镜物镜
行扫描显微镜物镜
LS04 series

焦距: 20 mm - 100 mm

多焦段多倍率覆盖,宽对焦范围设计 均匀 MTF 设计,光学无热化设计 超低畸变,高相对照度 接口 M42×P1, 专为小型线扫相机设计 适用于印刷包装检测 工业 高度 检测金属的刻印 电子零件 瑕疵 / 污点 LED 外观检测 有无 / 辨别 辨别电池组的颜色 工业 瑕疵 / 污点 检查极片涂布上的瑕疵 / 污点

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行扫描显微镜物镜
行扫描显微镜物镜
LS40 Series

焦距: 40 mm - 100 mm

专为 8k7μ 线扫描相机而设计 标准焦段及倍率可供选择 倍率覆盖 0.02x-0.4x V-Mount,灵活适配不同接口相机 适用于锂电等大尺寸检测 应用展示 工业 高度 检测金属的刻印 电子零件 瑕疵 / 污点 LED 外观检测 有无 / 辨别 辨别电池组的颜色 工业 瑕疵 / 污点 检查极片涂布上的瑕疵 / 污点

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行扫描显微镜物镜
行扫描显微镜物镜
LS12 series

焦距: 116 mm
图像圈: 62 mm

适用于 8k/12k 分辨率的相机 标准放大倍率覆盖 0.18X-1.29X 区域 大通光量设计可达 F4.5 超低光学畸变 应用展示 工业 高度 检测金属的刻印 瑕疵 / 污点 检测钢板上的瑕疵污点 液晶、半导体、其他 计数 SD 卡数量计算 几何测量 检测 IC 导线弯曲

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大尺寸显微镜物镜
大尺寸显微镜物镜
MF series

焦距: 35 mm - 90 mm

最大像面可达 43mm,支持 2900 万像素芯片 可适配 4k 线扫相机,对应 5μ/7μ 像元 光学性能优于单反镜头 标准焦段及倍率可供选择 适用于印刷包装检测 应用展示 工业 瑕疵 / 污点 检测钢板上的瑕疵污点 电子设备 有无 / 辨别 辨别电池组的颜色 电子零件 高度 检测金属的刻印 液晶、半导体、其他 计数 SD 卡数量计算

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