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长度: 30 cm
宽度: 27.5 cm
高度: 10 cm
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- 产品及有机/无机原料分析
- 催化剂、颜料、涂料、橡胶及塑料分析
- 土壤、废水、燃烧灰、过滤器及细颗粒物分析
- 合成过程中的催化剂残留分析
- 药物有效成分中的杂质与异物分析
Shimadzu France
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AXIS Supra+ 是一款成像型 X 射线光电子能
谱仪（XPS），可提供材料表面最上层约 10 nm 的元素及化学态定量信息。在日本亦称为 Kratos Ultra 2。AXIS Supra+ 将高性能分光与并行成像能力与先进自动化相结合，适用于金属、半导体和绝缘体的科研及常规表面
分析。
主要特性
- 灵敏度：在分光和 XPS 成像模式下具备优异灵敏度，适用于表面与痕量分析。
- 易用性：ESCApe
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... 亦称为化学
分析电子谱（ESCA），是一种成熟的表面
分析技术，用于材料表征。XPS可提供来自材料表面上约10 nm 深度的元素及化学态的定量信息。Kratos AXIS Nova 光电子能
谱仪可在所需的超高真空条件下，从稳定的材料中采集XPS谱图和成像数据。
性能
为实验室与生产环境的高效使用而设计，AXIS Nova 配备自动样品装载、用于快速样品定位的正交摄像头以及直观的采集软件。110 ...
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