EDXRF光谱仪 EDX-7200

XRFEDX用于制药业

概述
EDX-7200 是 EDX 系列的型号，针对高灵敏度、高速度和高精度而设计。通过专用筛查分析套件支持 RoHS/ELV、REACH、TSCA 等法规合规检测，配备高分辨率 SDD 探测器以提高计数率和检测效率。

原理
当样品被 X 射线管发出的 X 射线照射时，样品中的原子会发射具有特征的荧光 X 射线。通过分析各元素特征的波长/能量进行定性鉴定，通过测量元素特征波长处的强度实现基于浓度的定量分析。

主要特点

• 高分辨率 SDD 探测器，提供更高的计数率和改进的检测效率。
• 优异的能量分辨率可减少谱峰重叠，提升分析可靠性。
• 功能性设计，可接受最大约 W300 × D275 × H100 mm 的样品。
• 通过专用筛查分析套件支持 RoHS/ELV、REACH、TSCA 合规检测。
• 针对高灵敏度、高速度和高分析精度进行优化。

应用

• 电气/电子材料
  • RoHS 与卤素筛查
  • 半导体、光盘、液晶、太阳能电池的薄膜分析
• 汽车与机械
  • ELV 危险元素筛查
  • 零部件的成分分析、镀层厚度测量、化学转化涂膜质量/膜量测定
• 黑色/有色金属
  • 原材料、合金、焊料及贵金属的主成分与杂质分析
  • 炉渣成分分析
• 矿业
  • 矿石处理的品位分析
• 陶瓷
  • 陶瓷、建材（如水泥、玻璃、砖）、粘土的分析
• 石油与石化
  • 石油中硫含量分析
  • 润滑油中添加元素及混合元素分析
• 化学品
  • 产品及有机/无机原料分析
  • 催化剂、颜料、涂料、橡胶及塑料分析
• 环境
  • 土壤、废水、燃烧灰、过滤器及细颗粒物分析
• 制药
  • 合成过程中的催化剂残留分析
  • 药物有效成分中的杂质与异物分析
• 农业与食品
  • 土壤、肥料与植物分析
  • 原料成分分析、添加元素控制与食品中异物检测
• 其他
  • 考古样品与宝石的成分分析
  • 玩具与消费品中有毒重金属的检测

技术参数

• 型号：EDX-7200
• 探测器：高分辨率 SDD（硅漂移探测器）
• 探测器优势：高计数率、提高的检测效率、减少峰重叠
• 最大样品尺寸：约 W300 × D275 × H100 mm
• 设计目标：高灵敏度、高速、高精度
• 合规支持：RoHS/ELV、REACH、TSCA 筛查套件
• 分析类型：定性（元素识别）与定量（基于谱峰强度的浓度分析）