EDXRF光谱仪 ALTRACE

EDX用于分析杂质痕量用于食品分析

概述
ALTRACE 是一款能量色散 X 射线荧光（EDX）光谱仪，结合了优化的光学设计与 Shimadzu 的高速信号处理技术，可在无需化学预处理的情况下直接测量约 0.1 ppm 至数百分比的元素含量。采用高灵敏度 100 W X 射线源，ALTRACE 可实现 Cd 与 Pb 的亚 ppm 检出性能，并支持自动化、连续运行以满足日常分析需求。

主要特性

• 超微量检测（0.1 ppm Cd、Pb）：无需化学预处理，直接测量微量至百分比级重金属。
• 高通量（每次运行最多 48 个样品）：多样品换位器与可交换样品架实现连续自动化运行。
• 快速、简便且运行成本低：非破坏性测量，几分钟内出结果，运行成本低，样品处理简单。

优异的灵敏度
优化的光学布局、高功率 X 射线管与高灵敏度探测器，结合 Shimadzu 的高速信号处理，可比通用 EDX 系统（如 EDX-7200）获得更高的检出效率，从而改善低浓度液体和固体样品的检出限，并缩短自动多样品分析的测量时间。

自动滤片交换
一次 X 射线滤片有助于移除背景，提高微量分析的信噪比。ALTRACE 配备 6 个一次滤片槽（包含 open 和 attenuator 在内共 8 种滤片），软件可自动切换以适应测量条件。

滤片表
Filter #1 | 14 至 38 keV | Mo, Rh, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb
Filter #2 | 2 至 4 keV | S, Cl
Filter #3 | 5 至 10 keV | Cr, Mn, Fe, Co, Ni
Filter #4 | 9 至 10 keV | Hg
Filter #5 | 9 至 14 keV | As, Br, Zr, Hg, Pb, Bi
Filter #6 | 4 至 5 keV | Ti, V

样品处理与测量
ALTRACE 支持将固体、粉末和液体置于专用样品池中直接测量，样品由合适的 X 射线薄膜支撑（粉末及水溶液常用聚丙烯膜；有机溶剂使用相应薄膜）。EDX 为非破坏性分析，允许同一样品用于筛查与精密分析。系统支持基于基元参数（FP）的方法进行定性/定量分析，亦支持基于校准曲线的定量分析，无需每次测量重复校准。

高通量与操作灵活性
主机宽度 710 mm，内置多样品换位器与托盘抽屉式系统，可在不打开设备内部的情况下安全更换样品。运行期间可暂停分析、加入新样品并调整计划，提高工作流程灵活性。

软件与集成
与 LabSolutions EDX 的无缝集成支持常规分析流程化、数据管理和自动化，包括样品排程与滤片管理。

应用要点

• 土壤、食品及添加剂中有害重金属的筛查与定量分析。
• 化妆品原料粉末中铅（Pb）和砷（As）的定量分析。
• 环境、食品安全与材料领域的一般元素筛查。

技术规格

• 型号：ALTRACE
• 检测能力：在高灵敏度 100 W 光源下，Cd 与 Pb 可达 0.1 ppm
• 测量范围：约 0.1 ppm 至数百分比（无需前处理即可直接测量）
• 通量：每次运行最多 48 个样品（多样品换位器）
• X 射线源功率：高灵敏度 100 W 光源
• 滤片系统：6 个一次滤片槽（包含 open 与 attenuator 共 8 种滤片）；自动交换
• 样品类型：固体、粉末、液体（专用样品池，配 X 射线薄膜）
• 操作灵活性：托盘抽屉式样品更换、运行中可暂停与重新分配分析
• 主机宽度：710 mm（主机配多样品换位器）
• 分析方法：基元参数（FP）方法与基于校准曲线的定量分析
• 集成：兼容 LabSolutions EDX，用于数据处理与自动化