SERVOMEX踪迹分析仪

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氧气分析仪
氧气分析仪
Laser 3 Plus Process

... SERVOTOUGH危险区 紧凑型Laser 3 Plus Process 分析仪可实现快速而精确的过程控制测量 Laser 3 Plus Process可调谐激光二极管(TDL) 分析仪具有仕富梅TDL吸收光谱技术的全部优点,而且尺寸小、重量轻,可提供无与伦比的安装灵活性和性价比优势。该系列产品可在高温和危险区域应用中提供快速、精确和灵敏的测量。 ...

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氧气分析仪
氧气分析仪
4900 Multigas

... 助力实现先进的数字式CEMS 分析 4900 Multigas是一款高性能CEMS 分析仪,适用于广泛的多元气体测量应用 SERVOPRO 4900 Multigas专为烟道气连续排放监测 (CEMS) 而设计,可同时测量四种气 体流。该产品将仕富梅先进的传感技术与现代化数字式平台集于一身,性能更佳。 4900 Multigas能向后兼容原有4900 分析仪,而且采用了相同的测量技术,不仅能提供可靠的气体 分析,还能满足现代 分析系统的高级数字通信要求。 CEMS气体 分析的完整监控解决方案 对于包括发电 ...

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踪迹分析仪
踪迹分析仪
Chroma

... 超级精确的微量级气体 分析仪 Chroma针对特定背景气体进行了优化,可确保最佳的应用性能,是市场上最灵活的微量级气体监测方案之一。 凭借非损耗型等离子放射检测器 (PED)、火焰离子化检测器 (FID) 和热导率检测器 (TCD),Chroma 分析仪堪称目前市场上功能最多的微量级气体测量设备之一。单台4U架式 分析仪配置即可满足大多数应用的要求,使得Chroma成为持续过程控制或质量监测的紧凑、高性价比的解决方案。 多功能,可满足各种应用需求 依赖于高产品纯度的应用需要对异常灵敏度和性能进行痕量 分析。需要测量的杂质本质上是多种多样的 ...

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气体分析仪
气体分析仪
DF-745

... ,可用于LED/LCD制造过程中超高纯 (UHP) 电子工业级气体检测应用的微量级和超微量级水分测量。 DF-745用于LED/LCD制造过程中的微量级和超微量级水分污染物测量,可以监测多种背景气体,在紧凑的空间内提供了优异的性能和灵活性。 该款 分析仪采用坚固耐用的智能软硬件设计,便于携带,几乎不需要此类应用中常见的干燥时间。 DF-745具有十亿分之1 (ppb) 的低检测限 (LDL),可提供超可靠的基准测量性能和快速响应。坚固耐用的Herriott测量池尽可能避免了水分和光学器件的接触, ...

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气体分析仪
气体分析仪
DF-745 SGMax

... 这是不使用泵的前提下能够达到的低水平。超稳定的零漂移传感技术有助于延长标定周期并减少后续维护需求。 靈活的TDL痕量測量,適用於多種混合氣體 當您需要 分析純淨和特種氣體混合應用中作為污染物的水分時,您需要具有低LDL和寬量程的高精度,穩定測量。堅固的設計允許攜帶乾燥時間,這對過程效率至關重要,記錄生產的要求也是如此 有效數據。無論使用哪種應用,您都需要一種水分 分析儀,它能夠提供优异的性能,同時可以積極降低維護成本。我們認為您不必妥協。 絕不妥協的解決方案 SGMax的核心是功能強大的應用程序軟件,專門設計用於混合包含單一氣體和混合物的特種氣體以及最多八種成分 ...

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氮分析仪
氮分析仪
DF-749

... 提供超可靠的基线测量和快速的响应速度。 超稳定的TDL测量 现代LCD和LED制造工艺需要对高纯度电子级气体中的水分污染物进行超痕量质量测量。在这种苛刻的应用中,用户需要一款能够在多种背景气体中提供高精度和超低检测限的水分 分析仪。无论您有什么样的应用需求,您都需要一款高性能的水分 分析仪。我们认为你们不应该妥协。 种无可挑剔的解决方案 DF-749 NanoTrace可满足您的应用需求,不仅具有稳定的微量级和超微量级测量性能,还具有灵活的便携性。其采用先进的TDL传感技术,具有零漂移,快速响应,高稳定性和精度 ...

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氮分析仪
氮分析仪
DF-750

... DF-750是针对300mm半导体制造中超高纯 (UHP) 气体测量而优化的一款微量级/超微量级水分 分析仪。 DF-750是针对300mm半导体制造过程而优化的一款 分析仪,可以对一系列UHP气体进行微量级和超微量级水分测量。该款 分析仪可以对电子工业级气体(包括氮气、氢气、氦气、氩气和氧气等)中的水分污染物进行测量。 可调谐激光二极管 (TDL) 传感技术可以提供低至万亿分之100 (ppt) ...

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氩分析仪
氩分析仪
DF-750 ULTRA

... 从而大大延长了校准间隔。这种低拥有成本与优异的测量性能相结合,意味着DF-750 ULTRA是用于UHP气体质量检查的优质 分析解决方案。 高稳定性TDL迹线/超迹线测量 UHP电子气体的超痕量鉴定对于半导体制造至关重要。您需要水分 分析仪 可以提供高稳定性的测量结果,并具有灵敏且一致的性能。准确而低的LDL是必需的,容易存储和调用数据/校准记录也是如此。无论您有什么要求,您都需要一种能够提高运行效率的水分 分析仪。我们不相信你应该 必须妥协。 绝不妥协的解决方案 DF-750 ...

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氧气分析仪
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DF-760E

... Servomex的领先TDL和库仑电子传感器技术提供的用于超痕量水分和氧气的组合 分析解决方案。低LDL – 100ppt(H2O)/ 45ppt(O2)-提供了所需的灵敏度,并且能够通过单个设备测量N2,H2,He,Ar和O2背景气体的多种气流,从而提供了相当大的适应性以适合您的气体质量检查需求。 维护简单,降低了运营成本 通过在一个紧凑的一体式解决方案中提供双重 分析功能,DF-760E减少了因分别使用单独的O2和H2O 分析仪而产生的占地面积,基础架构和维护成本。通过提供始终可靠,快速的响应速度和零漂移 ...

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氧气分析仪
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DF-760E ULTRA

... 紧凑型DF-760E NanoTrace ULTRA 分析仪可为UHP大宗气体提供先进的质量控制测量,为痕量和超痕量水分(H2O)和氧气(O2)进行双组分测量提供优异的解决方案。 DF-760E ULTRA提供了一种紧凑的集成解决方案,用于同时监测痕量水分和痕量氧气,它是一款可用于监测集成电路板制造中使用的UHP大宗气体的 分析仪。 DF-760E ULTRA将Servomex的无消耗电量 分析传感器的非凡性能与强大的可调谐二极管激光(TDL)技术结合在一个紧凑的装置中,可测量背景气体氮气混合物中H2O ...

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