氩分析仪 DF-750 ULTRA

氮氦气氧气

DF-750 ULTRA是一种痕量/超痕量分析仪，经过优化，可对300毫米半导体工厂中使用的超高纯（UHP）气体进行行业高效的水分测量。 DF-750 ULTRA专为在各种UHP气体中进行痕量和超痕量水分测量而设计，针对300mm半导体工厂进行了优化。它测量作为电子级气体氮气，氢气，氦气，氩气和氧气中污染物的水分。 可调谐二极管激光（TDL）传感技术可提供低至55 ppb（ppt）的检测下限（LDL），从而确保DF-750 ULTRA稳定，高精度的测量满足半导体生产的精确监控需求。 坚固的DF-750 ULTRA对使用寿命的维护要求低，并且具有零漂移稳定性，从而大大延长了校准间隔。这种低拥有成本与优异的测量性能相结合，意味着DF-750 ULTRA是用于UHP气体质量检查的优质分析解决方案。 高稳定性TDL迹线/超迹线测量 UHP电子气体的超痕量鉴定对于半导体制造至关重要。您需要水分分析仪 可以提供高稳定性的测量结果，并具有灵敏且一致的性能。准确而低的LDL是必需的，容易存储和调用数据/校准记录也是如此。无论您有什么要求，您都需要一种能够提高运行效率的水分分析仪。我们不相信你应该 必须妥协。 绝不妥协的解决方案 DF-750 ULTRA旨在满足全球半导体制造商所要求的优质的气体纯度标准。 DF-750 ULTRA利用先进的TDL传感技术，该技术安装在坚固且有弹性的Herriot Cell中，可避免水分与光学传感组件接触。结果是分析仪提供了超灵敏的，低至55ppt检测下限，非常适合在各种UHP电子等级中检查微量水分 气体，包括N2，H2，He，Ar和O2。 DF-750 ULTRA拥有记录的数据，并可以通过灵活的存储和调用功能随时获得，是300mm半导体工厂中UHP气体监测的完整解决方案。 维护简单，降低了运营成本 UHP电子气体的超痕量鉴定对于半导体制造至关重要。您需要水分分析仪 可以提供高稳定性的测量结果，并具有灵敏且一致的性能。准确而低的LDL是必需的，容易存储和调用数据/校准记录也是如此。无论您有什么要求，您都需要一种能够提高运行效率的水分分析仪。我们不相信你应该 必须妥协。