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... 4 是一个全 自动静态图像 分析系统，可测量干粉颗粒，混悬液和滤膜上颗粒的粒径和形貌。它旨在满足多学科研发实验室的多样化需求，是昂贵且耗时的手动显微镜的理想替代工具。由于完全 自动化运行且数据 分析简单，与手动方法相比，节约大量的时间。仅需简单标准化操作程序 (SOP) 的驱动操作，即可执行可靠的可重复测量。谨慎控制并审视所有关键因素，从分散状况、样品聚焦和光源一直到数据 分析和报告，提供可靠的数据结果。 概述 颗粒 粒度范围广泛，从 ...
... 都能凭借出众的可靠性持续提供准确的结果。 采用沉降法测量 粒度分布。通过X射线吸收直接测量颗粒质量。 通过测量颗粒在重力作用下，穿过具有已知性质的液体时的沉降速率（如斯托克斯定律所述），SediGraph 可以确定粒径范围为 0.1 到 300 µm 的颗粒的等效球径。 新一代 SediGraph III Plus 将这种久经考验的技术与新技术相结合，可提供可重现且高度准确的 粒度信息，在几分钟内完成大多数 分析。 颗粒的 粒度范围以及各 粒度类别的质量分布对陶瓷粉末的烧结能力、成形属性以及成品的孔径分布有着显著影响 ...
... A-22 NeXT 粒度仪 - 自动 粒度 分析简便无与伦比 A-22 NeXT 的两种型号是生产、质量控制、研发或制造过程控制中进行高效 粒度 分析的理想之选。 两种 粒度仪的设计和测量范围各不相同。 A-22 NeXT Micro 只需一个光源和一个检测器，就能稳定可靠地测量 ...
... 自动 粒度 分析：无与伦比的简便性和经济性 经过全面改良的 A-22 NeXT Micro 测量范围为 0.5 - 1500 μm，完全适用于所有典型的测量任务。智能测量设计使 A-22 NeXT 特别紧凑，节省空间。大多数测量的测量时间不超过一分钟，包括可靠的无残留清洗。 A-22 NeXT 具备所有决定性的优势：操作和清洁特别简单、 分析时间短、结果重复性可靠，并可记录湿法分散过程中的温度和 ...
... FRITSCH A-28 是一款理想的颗粒测定仪，用于快速 分析干燥、自由流动材料的颗粒形状和 粒度。通过对颗粒形状和 粒度的光学 分析，您可以准确快速地识别受损颗粒、杂质、团聚物或过大或过小颗粒，并在单个图像中轻松查看。根据样品数量的不同，测量时间不超过 5 分钟。测量结果可立即获得。因此，A-28 是便于质量控制、研究和实验室工作的完美测量仪器，也是筛分的快速替代方案。 您的优势 - ...
... 最大的改进在于能让您察觉到细微的差异。 LS 13 320 XR 采用先进的 PIDS 技术，为您提供绝佳的 粒度分布数据，让您能够进行高分辨率的测量并扩展动态范围。如同 LS 13 320，XR 分析仪提供快速、精准的结果，并帮助您简化工作流程从而达到最佳效率。一些重大改进可让您更容易察觉到细微差异，而正是这些细微的差异才会对您的 粒度 分析数据产生重大影响。 • ...