MICRO-EPSILON/米铱带自动校准功能测厚仪

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激光测厚仪
激光测厚仪
thicknessGAUGE C.LL

测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz

... 又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被 应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和 自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的 功能。 - ...

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MICRO-EPSILON/米铱
玻璃测厚仪
玻璃测厚仪
thicknessGAUGE C.C

测量范围: 2 mm
测量精度: 4 µm
测量宽度: 200 mm - 400 mm

... 又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被 应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和 自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 具有记录和过程控制的 功能。 文章数据库 生产档案 统计评估 返回生产的极限值监测(可选现场总线接口 ...

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MICRO-EPSILON/米铱
金属薄板测厚仪
金属薄板测厚仪
thicknessGAUGE C.LP

测量范围: 8 mm
测量精度: 0.8 µm
测量频率: 100 Hz

... 又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被 应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和 自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的 功能。 - ...

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MICRO-EPSILON/米铱
薄型材料测厚仪
薄型材料测厚仪
thicknessGAUGE O.EC

测量范围: 3 mm
测量精度: 0.3 µm
测量频率: 3.9 kHz

... combiSENSOR KSS6430的基础上工作。它根据 功能原理检测 它根据右侧解释的 功能原理检测测量对象的厚度。它与制造过程中的 在制造过程中与测量辊相匹配,以便提供最高的精度,即使在这个设备级别中也是如此。 thicknessGAUGE O.EC可以生成材料厚度的横向剖面图,即使是在这个设备级别中。 和任何宽度位置的纵向轮廓。 测量数据显示在供货范围内的触摸屏IPC上。 通过可选的网络或现场总线接口, thicknessGAUGE ...

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MICRO-EPSILON/米铱
板测厚仪
板测厚仪
thicknessGAUGE 3D

测量范围: 15 mm
测量精度: 1.2 µm
测量频率: 500 Hz

... 出厂组装并完成对准后交付

安装与校准
系统出厂组装并 校准完成。可在测量位置与停放位置间移动,停放位置便于保护传感器并执行全 自动重新 校准

软件与计算
测量与计算通过配置文件实现 自动化。可选的 3DInspect 软件支持创建和管理配置文件、选择测量参数和目标几何、点云对齐与过滤、相关区域选择及组合分析流程的 自动化。

技术规格

  • 测量范围(厚度):15
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MICRO-EPSILON/米铱
膜测厚仪
膜测厚仪
thicknessGAUGE O.IMS

测量精度: 0.2 µm - 0.2 µm
测量宽度: 0 mm - 1,250 mm

... 适用于间歇薄膜和纵向涂层薄膜,可在固定位置测量或生成纵向厚度轮廓。

软件与集成
紧凑单元包含集成线性单元(含电机控制)、紧凑型总线端子盒、 自动 校准装置以及预装软件的多点触控PC。随附软件支持数据采集、信号处理与 自动化。支持的测量模式包括定轨厚度测量、轮廓测量、多条纵向趋势测量、SPC 套件以及测量系统能力的 自动监控。

应用

  • 对涂覆和未涂覆的电池薄膜及隔膜进行高分辨率厚度测量
  • 定轨测量(如中心线)与横向轮廓测量
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MICRO-EPSILON/米铱
膜测厚仪
膜测厚仪
thicknessCONTROL BTG 8702 C.C

测量范围: 3.6 mm - 7 mm
测量精度: 0.3 µm - 0.5 µm
测量宽度: 0 mm - 800 mm

... 信号处理与 自动化的完整软件包

  • 可配置通道数:1 | 2 | 3 | 4 | 6 | 8


  • 应用 / 工作模式
    适用于固定通道测量(如中心线或边缘厚度)以及涂覆电池薄膜的横向(遍历)厚度测量。系统可配备多个传感器,实现最多 8 通道的同步测量,从而支持在线过程控制与 SPC 监测。

    系统组成与软件功能
    thicknessCONTROL ...

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    MICRO-EPSILON/米铱
    膜测厚仪
    膜测厚仪
    thicknessGAUGE C.C

    测量范围: 2.5 mm
    测量精度: 0.4 µm
    测量频率: 1 Hz - 10,000 Hz

    ... 厚度测量范围:2 mm

  • 精度:从 ±0.4 µm 起
  • 测量速率:最高可达 5 kHz
  • 自动校准
  • 紧凑设计,线性轴用于横向扫描
  • 集成线性单元包含电机控制、总线端子箱、自动校准装置及多点触控 PC
  • 软件模式:固定轨厚度测量、厚度轮廓测量、多个纵向剖面、MSP/SPC
  • ...

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